| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - *1. Způsob stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků na základě naměřených hodnot napětí a proudu a známých geometrických rozměrů čidla, vyznačující se tím, že měřící čidlo se nejprve napájí proudovými bipolárními pulsy a snímá se napětí na konci každého druhého impulsu jednoho bipolárního pulsu, načež se z naměřených hodnot proudu a napětí stanoví odpor a z této hodnoty a geometrických rozměrů čidla, korigovaných kalibračním měřením, se stanoví hledaná hodnota měrné vodivosti. Výsledek není zatížen cchybou známou u napěťového bipolárního pulsu a má vyšší odolnost vůči šumu. 2. Zařízení pro provádění způsobu stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků podle naroku 1, opatřené čidlem, vzorkovacím zesilovačem a snímačem výstupního signálu, vyznačující se tím, že čidlo je spínáno tak, aby se dosáhlo maximální symetrie impulsů. Výsledná hodnota je převedena na digitální výstup. Zařízení je určeno pro implementaci na čip a potlačuje maximálně parazitní vlastnosti technologii CMOS.
- *1. Způsob stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků na základě naměřených hodnot napětí a proudu a známých geometrických rozměrů čidla, vyznačující se tím, že měřící čidlo se nejprve napájí proudovými bipolárními pulsy a snímá se napětí na konci každého druhého impulsu jednoho bipolárního pulsu, načež se z naměřených hodnot proudu a napětí stanoví odpor a z této hodnoty a geometrických rozměrů čidla, korigovaných kalibračním měřením, se stanoví hledaná hodnota měrné vodivosti. Výsledek není zatížen cchybou známou u napěťového bipolárního pulsu a má vyšší odolnost vůči šumu. 2. Zařízení pro provádění způsobu stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků podle naroku 1, opatřené čidlem, vzorkovacím zesilovačem a snímačem výstupního signálu, vyznačující se tím, že čidlo je spínáno tak, aby se dosáhlo maximální symetrie impulsů. Výsledná hodnota je převedena na digitální výstup. Zařízení je určeno pro implementaci na čip a potlačuje maximálně parazitní vlastnosti technologii CMOS. (en)
- *1. Způsob stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků na základě naměřených hodnot napětí a proudu a známých geometrických rozměrů čidla, vyznačující se tím, že měřící čidlo se nejprve napájí proudovými bipolárními pulsy a snímá se napětí na konci každého druhého impulsu jednoho bipolárního pulsu, načež se z naměřených hodnot proudu a napětí stanoví odpor a z této hodnoty a geometrických rozměrů čidla, korigovaných kalibračním měřením, se stanoví hledaná hodnota měrné vodivosti. Výsledek není zatížen cchybou známou u napěťového bipolárního pulsu a má vyšší odolnost vůči šumu. 2. Zařízení pro provádění způsobu stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků podle naroku 1, opatřené čidlem, vzorkovacím zesilovačem a snímačem výstupního signálu, vyznačující se tím, že čidlo je spínáno tak, aby se dosáhlo maximální symetrie impulsů. Výsledná hodnota je převedena na digitální výstup. Zařízení je určeno pro implementaci na čip a potlačuje maximálně parazitní vlastnosti technologii CMOS. (cs)
|
| Title
| - *ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ
- *ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ (en)
- *ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ (cs)
|
| skos:prefLabel
| - *ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ
- *ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ (en)
- *ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/00216305:26220/01:PA20039!RIV06-GA0-26220___
|
| http://linked.open...tracePatentuVzoru
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(GA102/00/0939), Z(MSM 262200022)
|
| http://linked.open...cisloPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...eleniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/01:PA20039
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - conductivity mesurement current bipolar pulse technique IDEs - interdigitated electrodes precise measurement (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open...ydaniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...atelePatentuVzoru
| - Moravia patent Ing. Zak. Lidická 60100 Brno
|
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...ydaniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Hubálek, Jaromír
- Stehlík, Jiří
- Bečvář, Daniel
|
| http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
| http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
| http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
| http://linked.open...stnikPatentuVzoru
| - Krejčí Engineering, Tišnov
|
| http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)