Rentgenovou fotoelektronovou spektroskopií a hmotnostní spektroskopií sekundárních iontů byla studována difůze stříbra vyvolaná v amorfních tenkých vrstvách As50Se50 deponovaných pulzním laserem měkkým rentgenovým zářením. (cs)
Soft x-ray induced Ag diffusion in amorphous pulse laser deposited As50Se50 thin films was studied by x-ray photoelectron and secondary ion mass spectroscopy.
Soft x-ray induced Ag diffusion in amorphous pulse laser deposited As50Se50 thin films was studied by x-ray photoelectron and secondary ion mass spectroscopy. (en)
Soft x-ray induced Ag diffusion in amorphous pulse laser deposited As50Se50 thin films: An x-ray photoelectron and secondary ion mass spectroscopy study.
Difůze stříbra vyvolaná v amorfních tenkých vrstvách As50Se50 deponovaných pulzním laserem měkkým rentgenovým zářením: Studie rentgenovou fotoelektronovou spektroskopií a hmotnostní spektroskopií sekundárních iontů. (cs)
Soft x-ray induced Ag diffusion in amorphous pulse laser deposited As50Se50 thin films: An x-ray photoelectron and secondary ion mass spectroscopy study. (en)
Soft x-ray induced Ag diffusion in amorphous pulse laser deposited As50Se50 thin films: An x-ray photoelectron and secondary ion mass spectroscopy study.
Difůze stříbra vyvolaná v amorfních tenkých vrstvách As50Se50 deponovaných pulzním laserem měkkým rentgenovým zářením: Studie rentgenovou fotoelektronovou spektroskopií a hmotnostní spektroskopií sekundárních iontů. (cs)
Soft x-ray induced Ag diffusion in amorphous pulse laser deposited As50Se50 thin films: An x-ray photoelectron and secondary ion mass spectroscopy study. (en)