About: Experimental and theoretical analysis of defects on metallic oxide and semiconductor surfaces.

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Experimental and theoretical analysis of defects on metallic oxide and semiconductor surfaces. Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt
rdfs:seeAlso	http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=IAA100100905
Description	We will examine the atomic and electronic structure of selected reconstructions at metallic oxide and semiconductor surfaces with defects using both experimental SPM methods and first principles simulations. We will investigate the chemical (surface catalysis) and the physical (surface diffusion) processes on the TiO2 surface using combination of experimental and theoretical methods. Comparison between SPM images with atomic resolution will be further complemented by complex first principles calculations. The influence of surface imperfections on the electronic and atomic structure will be analysed. We will implement the Dynamical Force Microscopy in our laboratory to extend the capacity to cover fully all types of surfaces. Application of AFM to chemically identify single atoms on ionic and metal surfaces will be studied. We will study several factors affecting SPM image processes like the probe structure and the relaxations processes induced by the tip-sample interaction. (en) Budeme zkoumat atomární a elektronovou strukturu vybraných rekonstrukce povrchů kysličníků kovů a polovodičů s defekty pomocí jak experimentálních SPM metod tak výpočtů z prvních principů. Budeme studovat chemické (povrchová katalýza) a fyzikální (povrchová difůze) procesy na TiO2 povrchu pomocí experimentálních a teoretických metod. Porovnání mezi SPM obrázky s atomárním rozlišením bude dále doplněno komplexní teoretickou analýzou na základě výpočtů z prvních principů. Vliv povrchových defektů na elektronovou a atomární strukturu povrchu bude analyzován. Provedeme implementaci dynamického AFM v naší laboratoři umožňující analýzu všech typů porvchu. Bude zkoumána možnost aplikace AFM jako nástroje pro chemickou identifikaci jednotlivých atomů na iontových a kovových površích. Budeme analyzovat různé faktory ovlivňující SPM zobrazovací procesy jako například struktura hrotu nebo relaxační procesy vyvolané interakcí mezi hrotem a vzorečkem.
Title	Experimental and theoretical analysis of defects on metallic oxide and semiconductor surfaces. (en) Experimentální a teoretická analýza defektů na površích kysličníků kovu a polovodičů
skos:notation	IAA100100905
http://linked.open...avai/cep/aktivita	Grants of distinctly investigative character focused on the sphere of research pursued at present particularly in the Academy of Sciences of the Czech Republic
http://linked.open...kovaStatniPodpora	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/IAA100100905/celkovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/IAA100100905/celkoveNaklady
http://linked.open...datumDodatniDoRIV	2014-02-12 (xsd:date)
http://linked.open...i/cep/druhSouteze	VS - Veřejná soutěž ve výzkumu a vývoji
http://linked.open...ep/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open.../cep/fazeProjektu	92913508
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://linked.open...hodnoceniProjektu	U - Uspěl podle zadání, tj. byly splněny cíle a jeho předpokládané výsledky uvedené ve smlouvě / rozhodnutí o poskytnutí podpory
http://linked.open...vai/cep/kategorie	ZV - Základní výzkum
http://linked.open.../cep/klicovaSlova	Scanning Probe Microscopy; DFT simulations; Atomic Force Microscope; surface electronic structure; defects; atomic chemical identification (en)
http://linked.open...ep/partnetrHlavni	Fyzikální ústav AV ČR, v.v.i.
http://linked.open...inujicichPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu	1 (xsd:int)
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV	17 (xsd:int)
http://linked.open...enychVysledkuVRIV	17 (xsd:int)
http://linked.open...lneniVMinulemRoce	2012-02-29 (xsd:date)
http://linked.open.../prideleniPodpory	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/prideleniPodpory/IAA100100905
http://linked.open...iciPoslednihoRoku	2012
http://linked.open...atUdajeProjZameru	2013
http://linked.open.../vavai/cep/soutez	SAV02009-A
http://linked.open...usZobrazovaneFaze	DUU
http://linked.open...ai/cep/typPojektu	P - Projekt výzkumu a vývoje financovaný ze státního rozpočtu
http://linked.open...ep/ukonceniReseni	2012-12-31 (xsd:date)
http://linked.open...ep/zahajeniReseni	2009-01-01 (xsd:date)
http://linked.open...jektu+dodavatelem	Realizace dynamické silové mikroskopické (DFM) techniky. Určení elektronové struktury a chemických vlastností povrchů. Podrobná studie vlivu DFM sondy na zobrazovací proces a měření spektroskopie. Chemické určení jednotlivých atomů na površích všech typů (cs) Implementation of Dynamic Force Microscopy (DFM) technique. Determination of structural and chemical properties of surfaces. Detail characterization of the influence of SPM probe on imaging and STS processes. The chemical identification of single atoms. (en)
http://linked.open...tniCyklusProjektu	ZBBKU
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo	Atomic Force Microscope DFT simulations defects surface electronic structure Scanning Probe Microscopy
is http://linked.open...vavai/riv/projekt of	´Sub-atomic´ resolution of non-contact atomic force microscope images induced by a heterogeneous tip structure: a density functional theory study Characterization of the mechanical properties of qPlus sensors Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity Simultaneous current, force and dissipation measurements on the Si(111) 77 surface with an optimized qPlus AFM/STM technique An investigation of ethylene attachment to Si(111)-7 x 7 in the restatom-adatom bridging geometry: electronic and vibrational properties Chemical identification of single atoms in heterogeneous III-IV chains on Si(100) surface by means of nc-AFM and DFT calculations Competition between thermally activated and tip-induced hopping of indium atoms on Si(100) Stability, interaction and influence of domain boundaries in Ge/Si(111)-5x5 van der Waals interactions mediating the cohesion of fullerenes on graphene 'All-inclusive' imaging of the rutile TiO2(110) surface using NC-AFM Atomic and electronic properties of the Pb/Mo(110) adsorption system New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors Basic mechanisms for single atom manipulation in semiconductor systems with the FM-AFM Adsorption of histidine and histidine-containing peptides on Au(111) Understanding atomic-resolved STM images on TiO2(110)-(1x1) surface by DFT calculations Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy Guanine adsorption on the Cu(110) surface
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IAA100100905/2009/ico%3A68378271 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IAA100100905/2010/ico%3A68378271 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IAA100100905/2011/ico%3A68378271 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IAA100100905/2012/ico%3A68378271 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IAA100100905/2013/ico%3A68378271

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 117 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software