About: Characterization of thin thermoelectric layers and mutilayered structures by scanning thermal microscope and Harman method.     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
rdfs:seeAlso
Description
  • New method for thermoelectric thin layers and multilayered structures characterization from thermal conductivity point of view in nanometer range is presented. The method uses scanning thermal microscope working in active constant current mode. The limits of method will be estimated. For verification of the method the determined thermal conductivity will be compared with thermal conductivity estimated from Harman measurement of figure of merit done on Bi2Te3 layers of different thickness and measurement of their electrical conductivity and Seebeck coefficient. The new method and Harman method will be used mainly for optimization of p-type and n-type multilayered structures (superlattices) as materials for future efficient nanodevices. All layers and multilayered structures will be prepared by pulsed laser deposition method from hot pressed targets on oxidized Si substrates. The crystallinity, composition and morphology of deposited layers will be controlled by standard methods. (en)
  • Prezentujeme novou metodu měření tepelné vodivosti tenkých termoelektrických vrstev a multivrstevnatých systemů o rozměrech v řádu nm. Metoda používá rastrovací tepelný mikroskop provozovaný v aktivním módu konstantního proudu. Pro ověření nové metody budou změřené výsledky tepelné vodivosti porovnány s výsledky získanými z Harmanova měření termoelektrické účinnosti na Bi2Te3 vrstvách rozdílné tloušťky a standardní měření elektrické vodivosti a Seebeckova koeficientu. Nová metoda a Harmanova metoda budou hlavně použity pro optimalizaci p-typových a n-typových multivrstevnatých struktur (supermřížek) pro vývoj budoucích efektivních nanosoučástek. Všechny studované vrstvy a multivrstevnaté systémy budou připraveny metodou pulzní laserové depozice ze za tepla lisovaných terčů na zoxidované Si substráty. Krystalinita, stechiometrie a morfologie povrchu připravených vrstev bude kontrolována pomocí standardních měřicích metod.
Title
  • Characterization of thin thermoelectric layers and mutilayered structures by scanning thermal microscope and Harman method. (en)
  • Charakterizace tenkých termoelektrických vrstev a multi-vrstevnatých struktur pomocí rastrovacího termálního mikroskopu a Harmanovy metody.
skos:notation
  • GA13-33056S
http://linked.open...avai/cep/aktivita
http://linked.open...kovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady
http://linked.open...datumDodatniDoRIV
http://linked.open...i/cep/druhSouteze
http://linked.open...ep/duvernostUdaju
http://linked.open.../cep/fazeProjektu
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor
http://linked.open...vai/cep/kategorie
http://linked.open.../cep/klicovaSlova
  • skutterudites, termoelektricity, nano-layers, nano-multilayered structures (en)
http://linked.open...ep/partnetrHlavni
http://linked.open...inujicichPrijemcu
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV
http://linked.open...enychVysledkuVRIV
http://linked.open...lneniVMinulemRoce
http://linked.open.../prideleniPodpory
http://linked.open...iciPoslednihoRoku
http://linked.open...atUdajeProjZameru
http://linked.open.../vavai/cep/soutez
http://linked.open...usZobrazovaneFaze
http://linked.open...ai/cep/typPojektu
http://linked.open...ep/ukonceniReseni
http://linked.open.../cep/vedlejsiObor
http://linked.open...ep/zahajeniReseni
http://linked.open...tniCyklusProjektu
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo
  • skutterudites
  • nano-layers
  • termoelektricity
is http://linked.open...vavai/riv/projekt of
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of
Faceted Search & Find service v1.16.116 as of Feb 22 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3239 as of Feb 22 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 67 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software