*Development of new efficient methods for characterizing random defects originating onto solid surfaces taking place in industrial products. General mathematical procedures and software tools for the analysis of these defects will be developed. These mathematical procedures and software tools will be used to interpret experimental data of the samples of the surfaces containing defects obtained within the methods of scaning probe microscopy (i.e. within AFM, NSOMa SThM) and optical methods. (en)
*Vývoj nových efektivních metod pro charakterizaci defektů náhodného charakteru vznikajících na površích pevných látek, které existují u průmyslových výrobků. Budou vytvořeny obecné matematické postupy a softwarové prostředky pro analýzu těchto typů defektů. Tyto postupy a prostředky budou aplikovány na experimentální data obdržená pro studované vzorky povrchů s poruchami v rámci metod rastrovací sondové mikroskopie (AFM, NSOMa SThM) a v rámci optických metod.