About: Metrology for the manufacturing of thin films

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Metrology for the manufacturing of thin films Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt
rdfs:seeAlso	http://projects.npl.co.uk/optoelectronic_films/project.html http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=7AX12102
Description	Within this project questions related to the characterization of thin films will be addressed. Particular tasks are as follows: - traceability, intercomparison and validation of methods used for determination of material properties relevant for thin film systems, - development and evaluation of measurement methods for difficult layered systems, - metrology applicable on the manufacturing quality control. Within the project, CMI will deal with reflectance measurement on large areas of a sample. It is a method known as digital reflectometry with the help of which it is possible to calculate a set of reflectometric spectra from a series of images acquired under illumination with light of different wavelengths. From the reflectometric spectra it is then possible to calculate the optical properties of the sample such as index of refraction, extinction coefficient or thickness of the thin film on large sample area (ca 1 cm2). (en) V rámci projektu se řeší otázky charakterizace tenkých vrstev. Jednotlivé úkoly jsou následující: - návaznost, vzájemné srovnání a validace metod při určování materiálových vlastností relevantních pro tenkovrstevnaté systémy, - vývoj a vyhodnocení metod měření pro složité vrstevnaté systémy, - metrologie aplikovatelná při kontrole kvality ve výrobním procesu. ČMI se bude v rámci projektu zabývat měřením odrazivosti na velké ploše vzorku. Jedná se metodu známou jako digitální reflektometrie, kdy ze serie fotek vzorku osvětleného světlem o různých vlnových délkách, lze sestavit sadu reflektometrických spekter, ze které se pak určí optické vlastnosti vzorku jako např. index lomu, index absorpce či tloušťky tenké vrstvy na velké ploše vzorku (cca 1 cm2).
Title	Metrology for the manufacturing of thin films (en) Metrologie při výrobě tenkých vrstev
skos:notation	7AX12102
http://linked.open...avai/cep/aktivita	The sixth framework programme of the European Community for research, technological development and demonstration activities
http://linked.open...kovaStatniPodpora	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/7AX12102/celkovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/7AX12102/celkoveNaklady
http://linked.open...datumDodatniDoRIV	2014-06-12 (xsd:date)
http://linked.open...i/cep/druhSouteze	RP - Spolufinancování programu ES
http://linked.open...ep/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open.../cep/fazeProjektu	100399850
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor	JB - Senzory, čidla, měření a regulace
http://linked.open...vai/cep/kategorie	AP - Aplikovaný výzkum
http://linked.open.../cep/klicovaSlova	thin films; traceability; digital reflectometry (en)
http://linked.open...ep/partnetrHlavni	Český metrologický institut
http://linked.open...inujicichPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu	1 (xsd:int)
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV	0 (xsd:int)
http://linked.open...enychVysledkuVRIV	0 (xsd:int)
http://linked.open...lneniVMinulemRoce	2013-03-27 (xsd:date)
http://linked.open.../prideleniPodpory	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/prideleniPodpory/MSMT-2490%2F2013-310
http://linked.open...iciPoslednihoRoku	2014
http://linked.open...atUdajeProjZameru	2014
http://linked.open...usZobrazovaneFaze	DRRVK
http://linked.open...ai/cep/typPojektu	P - Projekt výzkumu a vývoje financovaný ze státního rozpočtu
http://linked.open...ep/ukonceniReseni	2014-07-31 (xsd:date)
http://linked.open.../cep/vedlejsiObor	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://linked.open...ep/zahajeniReseni	2012-01-01 (xsd:date)
http://linked.open...tniCyklusProjektu	ZBK
http://linked.open...n/vavai/cep/vyzva	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/vyzva/FP6-2005-Energy-4
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo	thin films traceability
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/7AX12102/2012/ico%3A00177016 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/7AX12102/2013/ico%3A00177016 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/7AX12102/2014/ico%3A00177016

Faceted Search & Find service v1.16.116 as of Feb 22 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3239 as of Feb 22 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 67 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software