The aim of the project is research and development of interferometric systems for measurement of geometrical quantities. Research exploiting previous results of laser standards of length and methodology of interferometric metrology of length will concentrate on production technology of optical components, interferometric methodology, frequency stabilization of laser sources, detection systems of interference signal and processing, all wit special care for the best resolution and precision possib (en)
Cílem projektu je výzkum a vývoj interferometrických systémů pro měření geometrických veličin. Výzkum v návaznosti na předchozí výsledky výzkumu laserových etalonů délky a metodiky interferometrické metrologie délky bude zaměřen na technologii výroby optických prvků, metodiku interferometrického měření, stabilizaci frekvence laserových zdrojů záření, detekční systémy interferenčního signálu, zpracování signálů, vše s důrazem na nejvyšší přesnost a rozlišení pro využití v měření v nanosvětě. (cs)