Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Cílem projektu je spojit zkušenosti dvou skupin aktivně využívajících rastrovací hrotové mikroskopie pro studium nanostrukturních tenkých vrstev a materiálů. Metody používaném ve Fyzikálním ústavu AV ČR, v.v.i, zahrnují vodivostní mikroskopii atomárních sil conductive atomic force microscopy (C-AFM), rastrovací Kelvinovskou mikroskopii a jsou doplněny mikrospektroskopií Ramanova rozptylu. Metody jsou používány především pro studium nanostrukturních heterogenních materiálů pro použití ve fotovoltaické přeměně sluneční energie, např. pro nanokrystalické křemíkové tenké vrstvy nebo objemové heteropřechody organických polovodičů.Další aplikace zahrnují diamantové povrchy strukturované pomocí terminace vodíkem nebo kyslíkem a funkcionalizované vazbou s organickými molekulami. Skupina na universitě v Leobenu používá stejné metody (C-AFM) pro studium hradlových vrstev oxidů křemíku a také vrstev HfO2 and ZrO2, ZnO nanodrátů, InAs povrchů, magnetických nanoteček a samo-uspořádaných polovodičových povrchů j (cs)
- The project aims to combine the expertise of the two groups actively researching the use of scanning probe methods for study of the nanostructured thin films and materials. The methods used by the group of Institute of Physics, Academy of Sciences of the #ORIGch Republic include the conductive atomic force microscopy (C-AFM), scanning Kelvin probe microscopy and are complemented by the use of Raman microscpectroscopy. The methods are applied in particular for the study of nanostructured heterogeneous materials for applications in photovoltaics, e.g., nanocrystalline silicon thin films, bulk heterojunction thin films. Other applications include diamond surfaces structured by hydrogen or oxygen termination and functionalized by the presence of chemically bound organic molecules. The group at University of Leoben used the same method (C-AFM) for study of silicon gate oxides as well as HfO2 and ZrO2 thin films, ZnO nanowire arrays, InAs growing surfaces, magnetic nanodots and self-organized semiconducto (en)
|
Title
| - Studium nanostrukturních heterogenních materiálů pomocí metod rastrovací hrotové mikroskopie (cs)
- Study of nanostructured heterogeneous materials using scanning probe methods (en)
|
http://linked.open...vai/cislo-smlouvy
| |
http://linked.open...lsi-vedlejsi-obor
| |
http://linked.open...avai/druh-souteze
| |
http://linked.open...domain/vavai/faze
| |
http://linked.open...vavai/hlavni-obor
| |
http://linked.open...vai/vedlejsi-obor
| |
http://linked.open...vavai/id-aktivity
| |
http://linked.open.../vavai/id-souteze
| |
http://linked.open...n/vavai/kategorie
| |
http://linked.open...vai/klicova-slova
| - nanostructures; heterogenous materials; scanning probe methods; AFM; C-AFM (en)
|
http://linked.open...avai/konec-reseni
| |
http://linked.open...nujicich-prijemcu
| |
http://linked.open...avai/poskytovatel
| |
http://linked.open...avai/start-reseni
| |
http://linked.open...ai/statni-podpora
| |
http://linked.open...vavai/typProjektu
| |
http://linked.open...ai/uznane-naklady
| |
http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
| |
http://linked.open...cet-spoluprijemcu
| |
http://linked.open...ai/pocet-vysledku
| |
http://linked.open...ku-zverejnovanych
| |
is http://linked.open...ain/vavai/projekt
of | |