Experimentálně a teoreticky bude studována elektronová a iontová emise indukovaná dopadem pomalých (menší než 1 keV) atomárních částic na povrch pevných látek. Za tímto účelem bude využito nově postaveného průletového spektrometru (TOF), který umožňuje použít pulsovaných svazků pomalých neutrálních nebo ionizovaných atomů jako primárních částic. V dalších experimentech s TOF budou vzorky současně s neutrály ozařovány pulsním CO(2) laserem nebo vysokoenergetickými elektrony za účelem vytvoření přídavných elektron-děrových excitací. Lze předpokládat, že analýza ionizace sekundárních částic v těchto experimentech přinese nový pohled na elektronické excitace vzniklé při atomárním rozprašování, které jsou velké technologické důležitosti. Studium elektronických procesů ve srážkové kaskádě přinese nové informace o fyzice vysoce excitované, prostorově omezené oblasti pevné fáze a je v mnohém směru komplementární ke studiu procesů indukovaných v pevné fázi femtosekundovými lasery. Výpočty (cs)