About: Experimental and theoretical analysis of defects on metallic oxide and semiconductor surfaces.     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
Description
  • We will examine the atomic and electronic structure of selected reconstructions at metallic oxide and semiconductor surfaces with defects using both experimental SPM methods and first principles simulations. We will investigate the chemical (surface catalysis) and the physical (surface diffusion) processes on the TiO2 surface using combination of experimental and theoretical methods. Comparison between SPM images with atomic resolution will be further complemented by complex first principles calculations. The influence of surface imperfections on the electronic and atomic structure will be analysed. We will implement the Dynamical Force Microscopy in our laboratory to extend the capacity to cover fully all types of surfaces. Application of AFM to chemically identify single atoms on ionic and metal surfaces will be studied. We will study several factors affecting SPM image processes like the probe structure and the relaxations processes induced by the tip-sample interaction. (en)
  • Budeme zkoumat atomární a elektronovou strukturu vybraných rekonstrukce povrchů kysličníků kovů a polovodičů s defekty pomocí jak experimentálních SPM metod tak výpočtů z prvních principů. Budeme studovat chemické (povrchová katalýza) a fyzikální (povrchová difůze) procesy na TiO2 povrchu pomocí experimentálních a teoretických metod. Porovnání mezi SPM obrázky s atomárním rozlišením bude dále doplněno komplexní teoretickou analýzou na základě výpočtů z prvních principů. Vliv povrchových defektů na elektronovou a atomární strukturu povrchu bude analyzován. Provedeme implementaci dynamického AFM v naší laboratoři umožňující analýzu všech typů porvchu. Bude zkoumána možnost aplikace AFM jako nástroje pro chemickou identifikaci jednotlivých atomů na iontových a kovových površích. Budeme analyzovat různé faktory ovlivňující SPM zobrazovací procesy jako například struktura hrotu nebo relaxační procesy vyvolané interakcí mezi hrotem a vzorečkem. (cs)
Title
  • Experimental and theoretical analysis of defects on metallic oxide and semiconductor surfaces. (en)
  • Experimentální a teoretická analýza defektů na površích kysličníků kovu a polovodičů (cs)
http://linked.open...vai/cislo-smlouvy
http://linked.open...avai/druh-souteze
http://linked.open...domain/vavai/faze
http://linked.open...vavai/hlavni-obor
http://linked.open...vavai/id-aktivity
http://linked.open.../vavai/id-souteze
http://linked.open...n/vavai/kategorie
http://linked.open...vai/klicova-slova
  • Scanning Probe Microscopy; DFT simulations; Atomic Force Microscope; surface electronic structure; defects; atomic chemical identification (en)
http://linked.open...avai/konec-reseni
http://linked.open...nujicich-prijemcu
http://linked.open...avai/poskytovatel
http://linked.open...avai/start-reseni
http://linked.open...ai/statni-podpora
http://linked.open...vavai/typProjektu
http://linked.open...ai/uznane-naklady
http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
http://linked.open...cet-spoluprijemcu
http://linked.open...ai/pocet-vysledku
http://linked.open...ku-zverejnovanych
is http://linked.open...ain/vavai/projekt of
Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 35 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software