Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Scanning measuring device for topography measurements that can be equipped both with contact and noncontact probe. Lateral scanning of the sample is performed manually using micrometer driven x-y precision positioning stage with resolution 0,01mm. The device makes possible to measure samples up to 25 mm. (en)
- Jedná se o skenovací měřicí systém pro topografii povrchů, který může využívat jak kontaktní tak bez bezkontaktní měřicí sondy. Pro skenování vzorku zařízení využívá manuální x-y mikrometrický posuv s přesností odečtu 0,01mm. Zařízení umožňuje měřit vzorky do průměru 25 mm.
- Jedná se o skenovací měřicí systém pro topografii povrchů, který může využívat jak kontaktní tak bez bezkontaktní měřicí sondy. Pro skenování vzorku zařízení využívá manuální x-y mikrometrický posuv s přesností odečtu 0,01mm. Zařízení umožňuje měřit vzorky do průměru 25 mm. (cs)
|
Title
| - Scanning measuring device for topography measurements with manual positioning (en)
- Skenovací měřicí systém pro určování topografie povrchů s manuálním posuvem
- Skenovací měřicí systém pro určování topografie povrchů s manuálním posuvem (cs)
|
skos:prefLabel
| - Scanning measuring device for topography measurements with manual positioning (en)
- Skenovací měřicí systém pro určování topografie povrchů s manuálním posuvem
- Skenovací měřicí systém pro určování topografie povrchů s manuálním posuvem (cs)
|
skos:notation
| - RIV/68407700:21110/11:00183426!RIV12-MSM-21110___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...onomickeParametry
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68407700:21110/11:00183426
|
http://linked.open...terniIdentifikace
| |
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open...vai/riv/kategorie
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - topography measurements, metrology, manual scanning (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open.../licencniPoplatek
| |
http://linked.open...okalizaceVysledku
| - Fakulta stavební ČVUT v Praze, Katedra fyziky
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...echnickeParametry
| - možnost měření tvaru povrchů kontaktním (kontaktní mikrometrické čidlo) či bezkontaktním způsobem (chromatický konfokální senzor), pro skenování vzorku zařízení využívá manuální x-y mikrometrický posuv, možnost měření vzorků do průměru 25 mm
|
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Mikš, Antonín
- Novák, Jiří
- Novák, Pavel
|
http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |