About: Mapování polovodičových struktur s sub-mikronovým rozlišením pomocí Ramanova rozptylu a fotoluminiscence

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Mapování polovodičových struktur s sub-mikronovým rozlišením pomocí Ramanova rozptylu a fotoluminiscence Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Ramanova mikrospektroskopie se v poslední době stává jednou z podstatných charakterizačních metod v polovodičovém průmyslu. Využívá se zejména ke stanovení lokálního interního stresu v materiálu, případně k identifikaci materiálu nebo jeho struktury či krystalografické orientace. Přednáška bude věnována zejména mapování vlastností polovodičových mikrostruktur pomocí Ramanovy spektroskopie. Získané výsledky srovnáváme s lokálními vlastnostmi vzorku (topografie, lokální vodivost či výstupní práce materiálu) změřenými pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM). Kombinace zmíněných technik umožňuje z pohledu Ramanovy mikrospektroskopie zobrazení měřeného vzorku a jeho vlastností s vysokým rozlišením. Naopak, z pohledu AFM je přínos Ramanovy mikroskopie dán zejména chemickým kontrastem, který není u tohoto druhu mikroskopu přímo dosažitelný. Ramanova mikrospektroskopie se v poslední době stává jednou z podstatných charakterizačních metod v polovodičovém průmyslu. Využívá se zejména ke stanovení lokálního interního stresu v materiálu, případně k identifikaci materiálu nebo jeho struktury či krystalografické orientace. Přednáška bude věnována zejména mapování vlastností polovodičových mikrostruktur pomocí Ramanovy spektroskopie. Získané výsledky srovnáváme s lokálními vlastnostmi vzorku (topografie, lokální vodivost či výstupní práce materiálu) změřenými pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM). Kombinace zmíněných technik umožňuje z pohledu Ramanovy mikrospektroskopie zobrazení měřeného vzorku a jeho vlastností s vysokým rozlišením. Naopak, z pohledu AFM je přínos Ramanovy mikroskopie dán zejména chemickým kontrastem, který není u tohoto druhu mikroskopu přímo dosažitelný. (cs) Raman spectroscopy is used for mapping of objects in micrometer scale. Combining of this method with results from AFM seems to be prommising characterization tool. (en)
Title	Mapování polovodičových struktur s sub-mikronovým rozlišením pomocí Ramanova rozptylu a fotoluminiscence Mapování polovodičových struktur s sub-mikronovým rozlišením pomocí Ramanova rozptylu a fotoluminiscence (cs) Mapping of semiconducting structures with sub-micron resolution by Raman and photoluminiscence spectroscopy (en)
skos:prefLabel	Mapování polovodičových struktur s sub-mikronovým rozlišením pomocí Ramanova rozptylu a fotoluminiscence Mapování polovodičových struktur s sub-mikronovým rozlišením pomocí Ramanova rozptylu a fotoluminiscence (cs) Mapping of semiconducting structures with sub-micron resolution by Raman and photoluminiscence spectroscopy (en)
skos:notation	RIV/68378271:_____/09:00339843!RIV10-MSM-68378271
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(KAN400100701), P(LC06040), P(LC510), Z(AV0Z10100521)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2010
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Fejfar, Antonín Ledinský, Martin Stuchlík, Jiří Vetushka, Aliaksi Kočka, Jan
http://linked.open.../riv/druhVysledku	O - Ostatní výsledky nezařaditelné do žádného z výše uvedených druhů výsledku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	324672
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68378271:_____/09:00339843
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Raman spectroscopy; silicon thin films; GaN (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	Raman spectroscopy GaN silicon thin films
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[E6D9A3F0C9C2]
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BM
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	5 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	5 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Center of nanotechnology and materials for nanoelectronics Functional hybrid nanosystems of semiconductors and metals with organic materials (FUNS) Structures for Nanophotonics and Nanoelectronics
http://linked.open...UplatneniVysledku	2009
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Ledinský, Martin Fejfar, Antonín Stuchlík, Jiří Kočka, Jan Vetushka, Aliaksi
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Physics and technology of nanostructures, surfaces and thin films

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 47 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software