About: Možnosti měřicího systému NanoTest NT600

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Možnosti měřicího systému NanoTest NT600 Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Technologie tenkých vrstev je v současnosti nepostradatelnou součástí mnoha výrobních procesů. S úspěchem se využívá například v elektronickém průmyslu, elektronice, optice, strojírenství, energetice či lékařství. Technologie tenkých vrstev je v současnosti nepostradatelnou součástí mnoha výrobních procesů. S úspěchem se využívá například v elektronickém průmyslu, elektronice, optice, strojírenství, energetice či lékařství. (cs) Nowadays, the technology of thin films is essential part of many production procedures. It is successfully used for instance in electrotechnical industry, electronics, optics, mechanical engineering, energetics and medicine. (en)
Title	Možnosti měřicího systému NanoTest NT600 Možnosti měřicího systému NanoTest NT600 (cs) Possibilities of measuring system NanoTest NT600 (en)
skos:prefLabel	Možnosti měřicího systému NanoTest NT600 Možnosti měřicího systému NanoTest NT600 (cs) Possibilities of measuring system NanoTest NT600 (en)
skos:notation	RIV/68378271:_____/05:00023547!RIV06-AV0-68378271
http://linked.open.../vavai/riv/strany	211;214
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(1QS100100563), Z(AV0Z10100522)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika	7-8
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2006
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Čtvrtlík, Radim Boháč, Petr Stranyánek, Martin Jastrabík, Lubomír
http://linked.open.../riv/druhVysledku	J - Článek v odborném periodiku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	531390
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68378271:_____/05:00023547
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	nanoindentation; scratch test; impact test; dynamic hardness; pin on disc; acoustic emission (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	acoustic emission nanoindentation pin on disc scratch test dynamic hardness impact test
http://linked.open...odStatuVydavatele	CZ - Česká republika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[B5F04E93D0B1]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Jemná mechanika a optika
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BH
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	4 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	4 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	New low temperature plasmatic deposition technologies of Ba1-xSrxTiO3 thin films for tunable microwave applications
http://linked.open...UplatneniVysledku	2005
http://linked.open...v/svazekPeriodika	50
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Jastrabík, Lubomír Boháč, Petr Stranyánek, Martin Čtvrtlík, Radim
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Wave and Corpuscular Light Propagation, Optical Materials and Technology
issn	0447-6441
number of pages	4 (xsd:int)

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 37 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software