About: Influence of film thickness, silane concentration and substrate temperature on structure and electrical properties of thin film protocrystalline silicon     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
Description
  • Studium vlivu tlouštky vrstvy, koncentrace silanu a teploty substrátu na strukturu a elektrické vlastnosti tenkých vrstev mikrokrystalického křemíku, připraveného pomocí PECVD.
  • Studium vlivu tlouštky vrstvy, koncentrace silanu a teploty substrátu na strukturu a elektrické vlastnosti tenkých vrstev mikrokrystalického křemíku, připraveného pomocí PECVD. (cs)
  • Study of influence of film thickness, silane concentration and substrate temperature on structure and electrical properties of thin microcrystalline siliconfilms by PECVD is presented. (en)
Title
  • Influence of film thickness, silane concentration and substrate temperature on structure and electrical properties of thin film protocrystalline silicon (en)
  • Studium struktury a růstu nizkoteplotního protokrystalického křemíku pomocí AFM mikroskopu
  • Studium struktury a růstu nizkoteplotního protokrystalického křemíku pomocí AFM mikroskopu (cs)
skos:prefLabel
  • Influence of film thickness, silane concentration and substrate temperature on structure and electrical properties of thin film protocrystalline silicon (en)
  • Studium struktury a růstu nizkoteplotního protokrystalického křemíku pomocí AFM mikroskopu
  • Studium struktury a růstu nizkoteplotního protokrystalického křemíku pomocí AFM mikroskopu (cs)
skos:notation
  • RIV/68378271:_____/03:00100037!RIV/2005/AV0/A02005/N
http://linked.open.../vavai/riv/strany
  • 93;96
http://linked.open...avai/riv/aktivita
http://linked.open...avai/riv/aktivity
  • P(IAA1010809), P(IAB2949101), Z(AV0Z1010914)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika
  • -
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
http://linked.open...aciTvurceVysledku
http://linked.open.../riv/druhVysledku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
http://linked.open...titaPredkladatele
http://linked.open...dnocenehoVysledku
  • 629496
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
  • RIV/68378271:_____/03:00100037
http://linked.open...riv/jazykVysledku
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
  • PECVD; microcrystalline silicon; AFM (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
http://linked.open...odStatuVydavatele
  • CZ - Česká republika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
  • [01A178266254]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
  • Československý časopis pro fyziku
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
http://linked.open...vavai/riv/projekt
http://linked.open...UplatneniVysledku
http://linked.open...v/svazekPeriodika
  • 53
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
  • Rezek, Bohuslav
  • Fejfar, Antonín
  • Pelant, Ivan
  • Kočka, Jan
  • Fojtík, Petr
  • Drbohlav, Ivo
  • Mates, Tomáš
  • Luterová, Kateřina
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
issn
  • 0009-0700
number of pages
Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 37 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software