About: Mass measurements using electron microscope

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Mass measurements using electron microscope Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Rastrovací elektronový mikroskop(REM) je známý zejména pro zobrazování a studium povrchu vzorků, ale po vhodné kalibraci lze jeho funkci riozšířit o kvantitativní měření, kterému se věnuje tento článek. Přidané využití REMu je demonstrováno na měření lokální tloušťky velmi tenkých vzorků pomocí prstencového detektoru temného pole. Vhodnými objekty v tomto případě jsou např. tenké filmy, nanočástice, makromolekulární komplexy, u kterých se tímto způsobem dá měřit celková hmotnost, rozložení hmotnosti na jednotku délky v případě vlíken, či na jednotku plochy v případě již zmíněných tenkých vrstevnatých preparátů. Kromě toho se dá tato metoda aplikovat absolutně, t.j.bez nutnosti použití jakýchkoli standardů tlouštěk, respektivě hmotnosti. Rastrovací elektronový mikroskop(REM) je známý zejména pro zobrazování a studium povrchu vzorků, ale po vhodné kalibraci lze jeho funkci riozšířit o kvantitativní měření, kterému se věnuje tento článek. Přidané využití REMu je demonstrováno na měření lokální tloušťky velmi tenkých vzorků pomocí prstencového detektoru temného pole. Vhodnými objekty v tomto případě jsou např. tenké filmy, nanočástice, makromolekulární komplexy, u kterých se tímto způsobem dá měřit celková hmotnost, rozložení hmotnosti na jednotku délky v případě vlíken, či na jednotku plochy v případě již zmíněných tenkých vrstevnatých preparátů. Kromě toho se dá tato metoda aplikovat absolutně, t.j.bez nutnosti použití jakýchkoli standardů tlouštěk, respektivě hmotnosti. (cs) Scanning electron microscope (SEM) has been used for imaging and analysis of sample surfaces. However, a well calibrated SEM can also be used for quantitative measurements that are described in this contribution. We demonstrate that the extended SEM can be used for measurement of local thickness of very thin samples using an annular dark-field detector. Samples of interest for such measurements can be, for example, thin films, nanoparticles, macromolecular complexes where it is possible to measure mass per length in the case of filamentous structures or mass per area in case of layers. In addition, this technique can be applied to the absolute measurement without the need of any thickness or mass standards. (en)
Title	Mass measurements using electron microscope (en) Měření hmotnosti pomocí elektronového mikroskopu Měření hmotnosti pomocí elektronového mikroskopu (cs)
skos:prefLabel	Mass measurements using electron microscope (en) Měření hmotnosti pomocí elektronového mikroskopu Měření hmotnosti pomocí elektronového mikroskopu (cs)
skos:notation	RIV/68081731:_____/12:00385753!RIV13-AV0-68081731
http://linked.open...avai/riv/aktivita	I
http://linked.open...avai/riv/aktivity	I
http://linked.open...iv/cisloPeriodika	10
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2013
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Krzyžánek, Vladislav
http://linked.open.../riv/druhVysledku	J - Článek v odborném periodiku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	149391
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68081731:_____/12:00385753
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	REM; SEM; RTEM; STEM; quantitative measurements; dark-field (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	SEM REM STEM RTEM dark-field quantitative measurements
http://linked.open...odStatuVydavatele	CZ - Česká republika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[49977D14998B]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Jemná mechanika a optika
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2012
http://linked.open...v/svazekPeriodika	57
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Krzyžánek, Vladislav
issn	0447-6441
number of pages	3 (xsd:int)

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software