About: Zobrazení nevodivého vzorku v rastrovacím elektronovém mikroskopu

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Zobrazení nevodivého vzorku v rastrovacím elektronovém mikroskopu Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	If we observe a nonconductive structure in SEM, there is an electric charge accumulation in the surface layer that negatively influences the image formation. One of the ways to eliminate this unwanted effect is working at such a primary beam energy at which the entire flux of emitted electrons equals the primary beam current. There was created and verified a method enabling us to find this so-called critical energy for arbitrary specimen that doesn't show any prominent differences in the charging of larger areas. (en) Při pozorováni nevodivých struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu se v povrchové vrstvě preparátu hromadí elektrický náboj, který narušuje tvorbu obrazu. Jedním ze způsobů, jak tento nežádoucí děj eliminovat, je pracovat při takové energii primárního svazku, při které je celkový tok emitovaných elektronů roven primárnímu proudu. Byla vytvořena a ověřena metoda umožňující tuto tzv. kritickou energii zjistit pro libovolný preparát nevykazující z hlediska nabíjení výrazné rozdíly mezi oblastmi větších rozměrů. Při pozorováni nevodivých struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu se v povrchové vrstvě preparátu hromadí elektrický náboj, který narušuje tvorbu obrazu. Jedním ze způsobů, jak tento nežádoucí děj eliminovat, je pracovat při takové energii primárního svazku, při které je celkový tok emitovaných elektronů roven primárnímu proudu. Byla vytvořena a ověřena metoda umožňující tuto tzv. kritickou energii zjistit pro libovolný preparát nevykazující z hlediska nabíjení výrazné rozdíly mezi oblastmi větších rozměrů. (cs)
Title	Zobrazení nevodivého vzorku v rastrovacím elektronovém mikroskopu Imaging of nonconductive specimen in SEM (en) Zobrazení nevodivého vzorku v rastrovacím elektronovém mikroskopu (cs)
skos:prefLabel	Zobrazení nevodivého vzorku v rastrovacím elektronovém mikroskopu Imaging of nonconductive specimen in SEM (en) Zobrazení nevodivého vzorku v rastrovacím elektronovém mikroskopu (cs)
skos:notation	RIV/68081731:_____/05:00022441!RIV06-AV0-68081731
http://linked.open.../vavai/riv/strany	82;84
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(KJB2065301)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika	3
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2006
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Mika, Filip Frank, Luděk
http://linked.open.../riv/druhVysledku	J - Článek v odborném periodiku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	552436
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68081731:_____/05:00022441
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	low energy; insulator; critical energy (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	insulator low energy critical energy
http://linked.open...odStatuVydavatele	CZ - Česká republika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[73B6AC651F4D]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Jemná mechanika a optika
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Selected applications and futher development of the method for imaging of insulators in the scanning electron microscope with a cathode lens
http://linked.open...UplatneniVysledku	2005
http://linked.open...v/svazekPeriodika	50
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Frank, Luděk Mika, Filip
issn	0447-6441
number of pages	3 (xsd:int)

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 48 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software