| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - Výzkum realizovaný na základě zakázky od firmy EPCOS s.r.o. byl zaměřen na vývoj a ověření metodiky stanovení nízkých koncentrací Cl a Mo využívající metodu RTG fluorescenční spektroskopie. Pro tyto účely byly vytvořeny speciální standardy reflektující charakter práškových feritových jader firmy EPCOS a koncentrační rozsahy daných prvků (zejména jejich prahové koncentrace) a vyvinuté standardy byly porovnány se standardy dodanými firmou EPCOS s.r.o. Opakovaná měřená zvolených kritických vzorků byla podrobena statistickému vyhodnocení s cílem podchycení možných chyb. U zvolených vzorků byla dle zadání zadavatele zakázky stanovena atomová struktura kritických fází metodou RTG práškové difrakce. Pro vybrané vzorky byla následně aplikována metoda skenovací elektronové mikroskopie za účelem stanovení velikosti částic a morfologie podsypových materiálů.
- Výzkum realizovaný na základě zakázky od firmy EPCOS s.r.o. byl zaměřen na vývoj a ověření metodiky stanovení nízkých koncentrací Cl a Mo využívající metodu RTG fluorescenční spektroskopie. Pro tyto účely byly vytvořeny speciální standardy reflektující charakter práškových feritových jader firmy EPCOS a koncentrační rozsahy daných prvků (zejména jejich prahové koncentrace) a vyvinuté standardy byly porovnány se standardy dodanými firmou EPCOS s.r.o. Opakovaná měřená zvolených kritických vzorků byla podrobena statistickému vyhodnocení s cílem podchycení možných chyb. U zvolených vzorků byla dle zadání zadavatele zakázky stanovena atomová struktura kritických fází metodou RTG práškové difrakce. Pro vybrané vzorky byla následně aplikována metoda skenovací elektronové mikroskopie za účelem stanovení velikosti částic a morfologie podsypových materiálů. (cs)
- The research carried out under contract from EPCOS company was focused on the development and validation of the methodology determination of low concentrations of Cl and Mo method using X-ray fluorescence spectroscopy. Special standards were created for this purpose which reflect the character of powdered ferrite cores EPCOS and concentration ranges of the elements (in particular their threshold concentrations) and developed standards were compared with standards supplied by EPCOS. Repeated measurements of selected samples were subjected to statistical evaluation to detect possible errors. The atomic structure of critical phases was determined for samples selected by customer using X-ray powder diffraction method. The method of scanning electron microscopy was used additionally to determine the particle size and morphology of studied materials. (en)
|
| Title
| - Analysis of samples of ferrite cores using X-ray fluorescence spectroscopy, X-ray powder diffraction and scanning electron microscopy for the company EPCOS (en)
- Analýza vzorků feritových jader metodou RTG fluorescenční spektroskopie, RTG práškové difrakce a Skenovací elektronové mikroskopie pro firmu EPCOS s.r.o.
- Analýza vzorků feritových jader metodou RTG fluorescenční spektroskopie, RTG práškové difrakce a Skenovací elektronové mikroskopie pro firmu EPCOS s.r.o. (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Analysis of samples of ferrite cores using X-ray fluorescence spectroscopy, X-ray powder diffraction and scanning electron microscopy for the company EPCOS (en)
- Analýza vzorků feritových jader metodou RTG fluorescenční spektroskopie, RTG práškové difrakce a Skenovací elektronové mikroskopie pro firmu EPCOS s.r.o.
- Analýza vzorků feritových jader metodou RTG fluorescenční spektroskopie, RTG práškové difrakce a Skenovací elektronové mikroskopie pro firmu EPCOS s.r.o. (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/61989592:15310/12:33148486!RIV14-MSM-15310___
|
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/61989592:15310/12:33148486
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - EPCOS; company; microscopy; electron; scanning; diffraction; powder; X-ray; spectroscopy; fluorescence; using; cores; ferrite; samples (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open...telVyzkumneZpravy
| - EPCOS s.r.o. IČ: 25569341
|
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Filip, Jan
- Šafářová, Klára
|
| http://linked.open...rzeVyzkumneZpravy
| |
| number of pages
| |
| http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)