| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - Zařízení je určeno pro detekci a vyhodnocení submikronových pohybů pole koherenční zrnitosti pomocí svazku koherentního nebo kvazikoherentního záření ze zdroje záření pracujícího ve viditelné, blízké infračervené nebo blízké ultrafialové, oblasti spektra. Zařízení se vyznačuje tím, že obsahuje dělič svazku záření vložený mezi zdroj záření a objekt generující pole koherenční zrnitosti, přičemž za objektem nebo v jím odraženém poli je ustavena zvětšovací optická soustava pro pozorování interferenčního obrazce v oblasti zrna struktury koherenční zrnitosti, za níž je umístěn obrazový snímač, který je napojen na vyhodnocovací systém. Analýzou změny polohy interferenčního obrazce pozorovaného v oblasti libovolného zrna struktury koherenční zrnitosti lze detekovat translační pohyby pole koherenční zrnitosti v oblasti stovek nanometrů až 1 mikrometr.
- Zařízení je určeno pro detekci a vyhodnocení submikronových pohybů pole koherenční zrnitosti pomocí svazku koherentního nebo kvazikoherentního záření ze zdroje záření pracujícího ve viditelné, blízké infračervené nebo blízké ultrafialové, oblasti spektra. Zařízení se vyznačuje tím, že obsahuje dělič svazku záření vložený mezi zdroj záření a objekt generující pole koherenční zrnitosti, přičemž za objektem nebo v jím odraženém poli je ustavena zvětšovací optická soustava pro pozorování interferenčního obrazce v oblasti zrna struktury koherenční zrnitosti, za níž je umístěn obrazový snímač, který je napojen na vyhodnocovací systém. Analýzou změny polohy interferenčního obrazce pozorovaného v oblasti libovolného zrna struktury koherenční zrnitosti lze detekovat translační pohyby pole koherenční zrnitosti v oblasti stovek nanometrů až 1 mikrometr. (cs)
- The device is designated for detection and evaluation of the sub-micron movements of a speckle field by means of a coherent or quasi-coherent light beam originating from a visible, near infrared or near ultraviolet light source. The device is characterized in that it incorporates a beam splitter inserted between the light source and an object generating the speckle field. Furthermore, there is a magnifying optical system behind the object or in the object's reflected field for observation of an interference pattern in the area of a speckle grain of the speckle pattern. The device also comprises an image sensor situated behind the optical system connected to an evaluating system. It is possible to detect translation movements of the speckle field in the range from hundreds of nanometers to 1 um by the analysis of change of position of the interference pattern observed in the area of an arbitrary speckle grain of the speckle pattern. (en)
|
| Title
| - Zařízení pro detekci a vyhodnocení submikronových pohybů pole koherenční zrnitosti
- Device for detection and evaluation of the sub-micron movements of a speckle field (en)
- Zařízení pro detekci a vyhodnocení submikronových pohybů pole koherenční zrnitosti (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Zařízení pro detekci a vyhodnocení submikronových pohybů pole koherenční zrnitosti
- Device for detection and evaluation of the sub-micron movements of a speckle field (en)
- Zařízení pro detekci a vyhodnocení submikronových pohybů pole koherenční zrnitosti (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/61989592:15310/09:00010947!RIV10-AV0-15310___
|
| http://linked.open...tracePatentuVzoru
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...cisloPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...eleniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/61989592:15310/09:00010947
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - skvrna; sub-mikronový pohyb, interference (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open.../licencniPoplatek
| |
| http://linked.open...ydaniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...atelePatentuVzoru
| - Úřad průmyslového vlastnictví
|
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...ydaniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Horváth, Pavel
- Hrabovský, Miroslav
- Šmíd, Petr
|
| http://linked.open...mniOchranaPatentu
| |
| http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
| http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
| http://linked.open...uzitiPatentuVzoru
| |
| http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)