Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Thermographic measurement is used in practice approximately 30 years. The values found thermography system are unfortunately influenced by a number of uncertainties. One of these measurement uncertainties is also reflected radiation that affects the results of the quantitative thermography measurements significantly . This effect is very pronounced. The reflected light also comes in various measuring points of different values and therefore its elimination in measurement results is quite problematic. For example, the sky radiation often has a very low temperature (such as below minus 50ST C ), which are sometimes beyond the measuring range of thermographic equipment . Sky radiation significantly affects the results of thermographic measurement. Consequently, In some extreme cases not relevant thermographic not perform quantitative measurements . Currently there is no way negatively affect the reflected radiation to eliminate such that fundamentally does not interfere with the measurement results , or it is completely impossible for . However, there are other effects of measurement which can be used to eliminate the proposed technical equipment , both when measured in the exterior or interior - for example airflow , other sources of heat radiation , etc. Within the below solution is designed technical way of eliminating some of the negative effects of environmental conditions during thermographic measurements outdoors. (en)
- Termografické měření se v praxi používá přibližně již 30 let. Hodnoty zjištěné termografickým systémem jsou bohužel ovlivňovány celou řadou nejistot měření. Jednou z těchto nejistot měření je i odražené záření, které ovlivňuje výsledky kvantitativního termografického měření zásadním způsobem. Tento vliv je velmi výrazný. Odražené záření také nabývá v různých měřicích bodech různých hodnot a tudíž jeho eliminace ve výsledcích měření je poměrně problematická. Například záření oblohy také často vykazuje velmi nízké teploty (např. i pod minus 50st C), které jsou někdy i mimo měřící rozsah termografických zařízení. Záření oblohy zásadním způsobem ovlivňuje výsledky termografických měření. Z toho plyne, že v některých extrémních případech nelze relevantní termografická kvantitativní měření vůbec provést. V současné době neexistuje způsob, jak negativní vliv odraženého záření eliminovat tak, aby zásadním způsobem neovlivňovalo výsledky měření, případně je zcela neznemožňovalo. Existují však i další vlivy měření, které lze pomocí navrhovaného technického zařízení eliminovat, ať už při měření v exteriéru, nebo interiéru – např. proudění vzduchu, jiné zdroje tepelného záření apod. V rámci níže uvedeného řešení je navržen technický způsob eliminace některých negativních vlivů okolního prostředí při termografických měřeních v exteriéru.
- Termografické měření se v praxi používá přibližně již 30 let. Hodnoty zjištěné termografickým systémem jsou bohužel ovlivňovány celou řadou nejistot měření. Jednou z těchto nejistot měření je i odražené záření, které ovlivňuje výsledky kvantitativního termografického měření zásadním způsobem. Tento vliv je velmi výrazný. Odražené záření také nabývá v různých měřicích bodech různých hodnot a tudíž jeho eliminace ve výsledcích měření je poměrně problematická. Například záření oblohy také často vykazuje velmi nízké teploty (např. i pod minus 50st C), které jsou někdy i mimo měřící rozsah termografických zařízení. Záření oblohy zásadním způsobem ovlivňuje výsledky termografických měření. Z toho plyne, že v některých extrémních případech nelze relevantní termografická kvantitativní měření vůbec provést. V současné době neexistuje způsob, jak negativní vliv odraženého záření eliminovat tak, aby zásadním způsobem neovlivňovalo výsledky měření, případně je zcela neznemožňovalo. Existují však i další vlivy měření, které lze pomocí navrhovaného technického zařízení eliminovat, ať už při měření v exteriéru, nebo interiéru – např. proudění vzduchu, jiné zdroje tepelného záření apod. V rámci níže uvedeného řešení je navržen technický způsob eliminace některých negativních vlivů okolního prostředí při termografických měřeních v exteriéru. (cs)
|
Title
| - Tepelný štít pro eliminaci okolních vlivů prostředí při termografickém měření
- Tepelný štít pro eliminaci okolních vlivů prostředí při termografickém měření (cs)
- Thermal shield for eliminating the effects of surrounding environment during thermographic measurement (en)
|
skos:prefLabel
| - Tepelný štít pro eliminaci okolních vlivů prostředí při termografickém měření
- Tepelný štít pro eliminaci okolních vlivů prostředí při termografickém měření (cs)
- Thermal shield for eliminating the effects of surrounding environment during thermographic measurement (en)
|
skos:notation
| - RIV/61989100:27120/14:86089515!RIV15-MSM-27120___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...cisloPatentuVzoru
| |
http://linked.open...eleniPatentuVzoru
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/61989100:27120/14:86089515
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - measurement; thermographic; during; environment; surrounding; effects; eliminating; for; shield; Thermal (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open.../licencniPoplatek
| |
http://linked.open...ydaniPatentuVzoru
| |
http://linked.open...atelePatentuVzoru
| - Úřad průmyslového vlastnictví
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...ydaniPatentuVzoru
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Fabian, Radek
- Solař, Jaroslav
- Čmiel, Filip
- Peřina, Zdeněk
|
http://linked.open...mniOchranaPatentu
| |
http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
http://linked.open...uzitiPatentuVzoru
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |