Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Připravená tenká vrstva kompozitní heterostruktury z vodivého polymeru a fullerenu je studována několika AFM metodami a mapovánim mikro-Ramanovskeho rozptylu. Studuje se vliv mikroskopických morfologických a elektronických vlastností vrstvy na její makroskopické chování (cs)
- Prepared hetero-junction composite thin film of conductive polymer and fullerene is studied by several AFM techniques and micro-Raman mapping. The influence of microscopic morphologic and electronic properties on macroscopic behavior is discussed
- Prepared hetero-junction composite thin film of conductive polymer and fullerene is studied by several AFM techniques and micro-Raman mapping. The influence of microscopic morphologic and electronic properties on macroscopic behavior is discussed (en)
|
Title
| - Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films
- Korelace měření mikroskopie atomárních sil detekující lokální vodivost s mapováním mikro-Ramanovského rozptylu na tenkých vrstvách směsi polymeru s fullerenem (cs)
- Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films (en)
|
skos:prefLabel
| - Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films
- Korelace měření mikroskopie atomárních sil detekující lokální vodivost s mapováním mikro-Ramanovského rozptylu na tenkých vrstvách směsi polymeru s fullerenem (cs)
- Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films (en)
|
skos:notation
| - RIV/61389013:_____/07:00093055!RIV08-MSM-61389013
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(1M06031), P(GD202/05/H003), P(LC06040), P(LC510)
|
http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/61389013:_____/07:00093055
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - atomic force microscopy (AFM); composition and phase identification; photoconduction and photovoltaic effects; fullerens and related materials (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...odStatuVydavatele
| - DE - Spolková republika Německo
|
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Cimrová, Věra
- Rezek, Bohuslav
- Výprachtický, Drahomír
- Ledinský, Martin
- Čermák, Jan
- Fejfar, Antonín
- Kočka, Jan
- Mates, Tomáš
|
issn
| |
number of pages
| |