Yields of simple and complex DNA damages induced by ionizing radiation with different LET (0.4-160 keV/um) were predicted by theoretical modeling. (en)
Pomocí teoretického modelu byla provedena predikce výtěžků jednoduchých a komplexních poškození DNA vyvolaných ionizujícím zářením s různým LET (0.4-160 keV/um).
Pomocí teoretického modelu byla provedena predikce výtěžků jednoduchých a komplexních poškození DNA vyvolaných ionizujícím zářením s různým LET (0.4-160 keV/um). (cs)