About: Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Titanium dioxide films have many remarkable properties, for example photocatalytic activity and hydrophilicity. However, these properties depend significantly on the crystallinity, phase composition and microstructure of the films. Many of the microstructural features can be investigated by X-ray diffraction and X-ray reflectivity measurements.Crystallization of amorphous and nanocrystalline thin films with different thickness deposited on silicon and glass substrates was studied on post-annealed samples as well as by in-situ XRD measurement. Titanium dioxide films have many remarkable properties, for example photocatalytic activity and hydrophilicity. However, these properties depend significantly on the crystallinity, phase composition and microstructure of the films. Many of the microstructural features can be investigated by X-ray diffraction and X-ray reflectivity measurements.Crystallization of amorphous and nanocrystalline thin films with different thickness deposited on silicon and glass substrates was studied on post-annealed samples as well as by in-situ XRD measurement. (en) TiO2 má mnoho významných vlastností, např. fotokatalytickou aktivitu a hydrofilicitu. Nicméně tyto vlastnosti velmi závisí na krystalinitě, fázovém složení a mikrostruktuře vrstev. Mnoho mikrostrukturních rysů může být zkoumáno rtg difrakcí a měřením rtg odrazivosti. krystalizace amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev o různých tloušťkách může být dobře měřena stejně tak i pomocí in-situ rtg difrakce. Fázové složení a přechody, pnutí, velikosti krystalů, textury a povrchová drsnost byly zkoumány. Bylo zjištěno, že krystalizace silně závisí na tloušťce vrstvy. Anatázové krystality větší než 100nm rostou rychle v amorfních vrstvách při teplotě cca 250°C, zatímco v nanokrystalických vrstvách zůstávají malé (pod 10nm) až do teploty 600°C. (cs)
Title	Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness Komplexní XRD studie krystalizace amorfních a nanokrystalických magnetronově nanášených vrstev TiO2 o různých tloušťkách (cs) Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness (en)
skos:prefLabel	Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness Komplexní XRD studie krystalizace amorfních a nanokrystalických magnetronově nanášených vrstev TiO2 o různých tloušťkách (cs) Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness (en)
skos:notation	RIV/49777513:23520/08:00500786!RIV09-MSM-23520___
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(GA106/06/0327), Z(MSM0021620834), Z(MSM4977751302)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2009
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Musil, Jindřich Šícha, Jan
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Západočeská univerzita v Plzni / Fakulta aplikovaných věd
http://linked.open...dnocenehoVysledku	360784
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/49777513:23520/08:00500786
http://linked.open...riv/jazykVysledku	eng - angličtina
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	TiO2; crystallization; post-annealing; in-situ XRD; crystalline size; residual stress (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	TiO2 crystallization residual stress crystalline size in-situ XRD post-annealing
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[9DBEC10F1588]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Ghent
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Ghent
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Proceedings of ICTF 14 & RSD 2008
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BL
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	5 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Crystallization of amorphous and nanocrystalline thin films
http://linked.open...UplatneniVysledku	2008
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Musil, Jindřich Šícha, Jan Kužel, Radomír Nichtová, L. Matěj, Z.
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	WRD - Světová
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2008-11-20 (xsd:date)
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Condensed Matter Physics – New Materials and Technologies Procesy ve výbojovém plazmatu a nové tenkovrstvé materiály s unikátními vlastnostmi
number of pages	4 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	[S.n.]
https://schema.org/isbn	978-90-334-7347-0
http://localhost/t...ganizacniJednotka	23520

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software