Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Hlavním cílem práce je monitorování kvality c=Si desek v průběhu procesu výroby solárních článků. Pro charakterizace byla zvolena metoda povrchového fotonapětí, jejímž výsledkem je určení difúzní délky minoritních nosičů ze závislosti fotogenerovaného na (cs)
- The monitoring of c-Si wafer quality and cell production technology is the main purpose of this work. To characterize the silicon material during the process of the cell preparation, diffusion length of minority carriers L was chosen. The wavelength depe
- The monitoring of c-Si wafer quality and cell production technology is the main purpose of this work. To characterize the silicon material during the process of the cell preparation, diffusion length of minority carriers L was chosen. The wavelength depe (en)
|
Title
| - Photovoltagemethod employed for monitoring of silicon solar cell technology
- Photovoltagemethod employed for monitoring of silicon solar cell technology (en)
- Metoda povrchového fotonapětí využitá pro monitorování technologie výroby solárních článků (cs)
|
skos:prefLabel
| - Photovoltagemethod employed for monitoring of silicon solar cell technology
- Photovoltagemethod employed for monitoring of silicon solar cell technology (en)
- Metoda povrchového fotonapětí využitá pro monitorování technologie výroby solárních článků (cs)
|
skos:notation
| - RIV/49610040:_____/05:00000311!RIV06-MZP-49610040
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(SM/300/1/03), P(SN/3/172/05)
|
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/49610040:_____/05:00000311
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - Silicon wafers, c-Si solar cells, Diffusion length, Surface photovoltage (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Proceedings of the 20th International European Photovoltaic Solar Energy Conference held in Barcelona, Spain, 6-10 June 2005
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Bařinka, Radim
- Poruba, Aleš
- Toušek, Jiří
- Toušková, Jana
|
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| |
https://schema.org/isbn
| |