About: Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
Description
  • It is possible to modify physical and chemical properties (e.g. hardness, corrosion and abrasion resistance, friction coefficient) of base material through the thin layer deposition. The scanning probe microscopy could be used for the precise characterization thin layer properties. Through the scanning probe microscopy it is easily possible to determine e.g. 3D topology, nanohardness, elasticity, adhesion, electrical and thermal conductivity etc. (en)
  • Depozicí tenkých vrstev lze upravovat fyzikální a chemické vlastnosti základního materiálu jako jsou např. tvrdost, korozivzdornost, odolnost abrazi a koeficient tření. Pro velmi přesnou charakterizaci vlastností tenkých vrstev lze s výhodou využít metody mikroskopie rastrující sondy, pomocí kterých lze snadno stanovit 3D topografii, nanotvrdost, elasticitu, adhezi, elektrickou a tepelnou vodivost aj.
  • Depozicí tenkých vrstev lze upravovat fyzikální a chemické vlastnosti základního materiálu jako jsou např. tvrdost, korozivzdornost, odolnost abrazi a koeficient tření. Pro velmi přesnou charakterizaci vlastností tenkých vrstev lze s výhodou využít metody mikroskopie rastrující sondy, pomocí kterých lze snadno stanovit 3D topografii, nanotvrdost, elasticitu, adhezi, elektrickou a tepelnou vodivost aj. (cs)
Title
  • Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev
  • Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev (cs)
  • The use of scanning probe microscopy for a thin layer quality control (en)
skos:prefLabel
  • Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev
  • Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev (cs)
  • The use of scanning probe microscopy for a thin layer quality control (en)
skos:notation
  • RIV/46747885:24620/13:#0000242!RIV14-MSM-24620___
http://linked.open...avai/riv/aktivita
http://linked.open...avai/riv/aktivity
  • P(ED0005/01/01)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika
  • 1
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
http://linked.open...aciTvurceVysledku
http://linked.open.../riv/druhVysledku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
http://linked.open...titaPredkladatele
http://linked.open...dnocenehoVysledku
  • 116092
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
  • RIV/46747885:24620/13:#0000242
http://linked.open...riv/jazykVysledku
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
  • scanning probe microscopy; atomic force microscopy; structure; thin layer (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
http://linked.open...odStatuVydavatele
  • CZ - Česká republika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
  • [7B35B7F84EB7]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
  • Jemná mechanika a optika
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
http://linked.open...vavai/riv/projekt
http://linked.open...UplatneniVysledku
http://linked.open...v/svazekPeriodika
  • 58
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
  • Kejzlar, Pavel
  • Fijalkowski, Mateusz
  • Voleský, Lukáš
  • Rozek, Zbygniew
issn
  • 0447-6441
number of pages
http://localhost/t...ganizacniJednotka
  • 24620
Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 48 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software