Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - It is possible to modify physical and chemical properties (e.g. hardness, corrosion and abrasion resistance, friction coefficient) of base material through the thin layer deposition. The scanning probe microscopy could be used for the precise characterization thin layer properties. Through the scanning probe microscopy it is easily possible to determine e.g. 3D topology, nanohardness, elasticity, adhesion, electrical and thermal conductivity etc. (en)
- Depozicí tenkých vrstev lze upravovat fyzikální a chemické vlastnosti základního materiálu jako jsou např. tvrdost, korozivzdornost, odolnost abrazi a koeficient tření. Pro velmi přesnou charakterizaci vlastností tenkých vrstev lze s výhodou využít metody mikroskopie rastrující sondy, pomocí kterých lze snadno stanovit 3D topografii, nanotvrdost, elasticitu, adhezi, elektrickou a tepelnou vodivost aj.
- Depozicí tenkých vrstev lze upravovat fyzikální a chemické vlastnosti základního materiálu jako jsou např. tvrdost, korozivzdornost, odolnost abrazi a koeficient tření. Pro velmi přesnou charakterizaci vlastností tenkých vrstev lze s výhodou využít metody mikroskopie rastrující sondy, pomocí kterých lze snadno stanovit 3D topografii, nanotvrdost, elasticitu, adhezi, elektrickou a tepelnou vodivost aj. (cs)
|
Title
| - Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev
- Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev (cs)
- The use of scanning probe microscopy for a thin layer quality control (en)
|
skos:prefLabel
| - Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev
- Využití mikroskopu rastrující sondou pro kontrolu kvality tenkých vrstev (cs)
- The use of scanning probe microscopy for a thin layer quality control (en)
|
skos:notation
| - RIV/46747885:24620/13:#0000242!RIV14-MSM-24620___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/46747885:24620/13:#0000242
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - scanning probe microscopy; atomic force microscopy; structure; thin layer (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...odStatuVydavatele
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Kejzlar, Pavel
- Fijalkowski, Mateusz
- Voleský, Lukáš
- Rozek, Zbygniew
|
issn
| |
number of pages
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |