| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| rdfs:seeAlso
| |
| Description
| - The present invention relates to a method of determining sedimentation value wherein the invention is characterized in that at least one analyzed sample is put between a light source and a pinhole template, after which photosensitive series-connected resistors are disposed, wherein the pinholes in the template are distributed such that their pitch corresponds to a measuring unit for the just used analytic method, where a light coming out of the light source lights through the sample being analyzed. In the sediment of the sample, the light is absorbed and in the liquid above the sediment, the light passes through the analyzed sample and further through the pinholes in the template to the photosensitive resistors. Here, it causes reduction of their electrical resistance so that due to the series arrangement of the photosensitive resistors, the electrical resistance of the photosensitive resistor system is proportional to the height of the sediment and after lapse of time needful for the just used analytical method, and the electrical resistance value is then automatically recorded, evaluated and converted by the electronics to units of the concrete analytic method for exact determination of the sedimentation value. The invention further relates to an apparatus for making the above-described method of determining sedimentation value, wherein the apparatus is characterized in that it consists of a light source (1) and a pinhole template (6) with series-connected photosensitive resistors (5) disposed thereafter wherein the pitch of the pinholes in the template (6) corresponds to a measuring unit of the concretely used analytic method, wherein at least one analyzed sample (2) is arranged between the light source (1) and the pinhole template (6). (en)
- Řešení se týká způsobu stanovení sedimentační hodnoty, které je charakterizováno tím, že alespoň jeden analyzovaný vzorek je umístěn mezi světelný zdroj a dírkovou šablonu, za kterou jsou umístěny fotocitlivé rezistory zapojené do série, přičemž dírky v šabloně jsou rozmístěny tak, aby jejich rozteč odpovídala měrné jednotce pro konkrétní použitou analytickou metodu, kdy světlo vycházející ze světelného zdroje prosvěcuje analyzovaný vzorek. V jeho sedimentu je světlo absorbováno a v tekutině nad sedimentem prochází skrz analyzovaný vzorek a dále prochází dírkami v šabloně na fotocitlivé rezistory, kde vyvolá snížení jejich elektrické rezistence, takže vzhledem k umístění fotocitlivých rezistorů do série je tak elektrická rezistence soustavy fotocitlivých rezistorů úměrná výšce sedimentu a při dosažení času potřebného pro konkrétní analytickou metodu je hodnota elektrické rezistence elektronikou automaticky zaznamenána, vyhodnocena a převedena do jednotek konkrétní analytické metody pro přesné stanovení sedimentační hodnoty. Řešení se dále týká zařízení pro stanovení sedimentační hodnoty, které je charakterizováno tím, že se skládá ze světelného zdroje 1 a dírkové šablony 6, za kterou jsou umístěny fotocitlivé rezistory 5, zapojené do série, přičemž rozteč dírek 7 v šabloně 6 odpovídá měrné jednotce pro konkrétní použitou analytickou metodu, kdy alespoň jeden analyzovaný vzorek 2 je vložen mezi světelný zdroj 1 a dírkovou šablonu 6.
- Řešení se týká způsobu stanovení sedimentační hodnoty, které je charakterizováno tím, že alespoň jeden analyzovaný vzorek je umístěn mezi světelný zdroj a dírkovou šablonu, za kterou jsou umístěny fotocitlivé rezistory zapojené do série, přičemž dírky v šabloně jsou rozmístěny tak, aby jejich rozteč odpovídala měrné jednotce pro konkrétní použitou analytickou metodu, kdy světlo vycházející ze světelného zdroje prosvěcuje analyzovaný vzorek. V jeho sedimentu je světlo absorbováno a v tekutině nad sedimentem prochází skrz analyzovaný vzorek a dále prochází dírkami v šabloně na fotocitlivé rezistory, kde vyvolá snížení jejich elektrické rezistence, takže vzhledem k umístění fotocitlivých rezistorů do série je tak elektrická rezistence soustavy fotocitlivých rezistorů úměrná výšce sedimentu a při dosažení času potřebného pro konkrétní analytickou metodu je hodnota elektrické rezistence elektronikou automaticky zaznamenána, vyhodnocena a převedena do jednotek konkrétní analytické metody pro přesné stanovení sedimentační hodnoty. Řešení se dále týká zařízení pro stanovení sedimentační hodnoty, které je charakterizováno tím, že se skládá ze světelného zdroje 1 a dírkové šablony 6, za kterou jsou umístěny fotocitlivé rezistory 5, zapojené do série, přičemž rozteč dírek 7 v šabloně 6 odpovídá měrné jednotce pro konkrétní použitou analytickou metodu, kdy alespoň jeden analyzovaný vzorek 2 je vložen mezi světelný zdroj 1 a dírkovou šablonu 6. (cs)
|
| Title
| - Způsob a zařízení pro stanovení sedimentační hodnoty
- Způsob a zařízení pro stanovení sedimentační hodnoty (cs)
- Method of determining sedimentation value and apparatus for making the same (en)
|
| skos:prefLabel
| - Způsob a zařízení pro stanovení sedimentační hodnoty
- Způsob a zařízení pro stanovení sedimentační hodnoty (cs)
- Method of determining sedimentation value and apparatus for making the same (en)
|
| skos:notation
| - RIV/27184145:_____/14:#0000056!RIV15-MZE-27184145
|
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...cisloPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...eleniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/27184145:_____/14:#0000056
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - Wheat quality; Zeleny sedimentation test; Automation (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open.../licencniPoplatek
| |
| http://linked.open...ydaniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...atelePatentuVzoru
| - Úřad průmyslového vlastnictví
|
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...ydaniPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
| http://linked.open...mniOchranaPatentu
| |
| http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
| http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
| http://linked.open...uzitiPatentuVzoru
| |
| http://linked.open...stnikPatentuVzoru
| - Výzkumné centrum SELTON, s.r.o.
|
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)