| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - This paper reports on the fabrication and the characterisation of successful erbium in-diffusion into silicate glass surface for potential use in photonics active structures through ion beam analytical methods. The erbium doping occurred by ion exchange of erbium ions from a molten source for lithium ions from the specially designed glass substrates. Composition of the optical layers was studied by ion beam analytical techniques: RBS (Rutherford backscattering spectroscopy) characterized depth distribution of the incorporated Er3+ ions and PIXE (particle induced X-ray emission spectroscopy) gave information on the total amount of erbium incorporated in the samples. The NDP (neutron depth profiling) method was used to evaluate changes in distribution of Li+ ions in the surfaces of the fabricated samples. We observed shallow Er profiles that were accompanied by more mobile Cs+, Rb+ ions incorporated in the much deeper layer as compared to the Er. (en)
- Článek pojednává o zapracování erbia do silikátových skelných povrchů pro budoucí využití jeho aktivních fotonových struktur v analytických metodách na svazku. Implantace erbia probíhala iontovou výměnou z taveniny za ionty Li ze specielně navržených skelných substrátů. Složení opticky aktivních vrstev bylo studováno pomocí takových analytických metod na svazku jako např. RBS, PIXE. Metoda NDP (Neutronové hloubkové profilování) byla použita k vyhodnocení změn v rozdělení iontů Li+ u povrchu vyrobených vzorků. Viděli jsme mělké profily erbia, které byly doprovázeny mobilnějšími ionty Cs+ a Rb+, které byly uloženy v podstatně hlubších vrstvách než Er. Koncentrace Li ve skelných substrátech je ve skutečnosti ten nejdůležitější parametr pro difúzi Er do skelných substrátů.
- Článek pojednává o zapracování erbia do silikátových skelných povrchů pro budoucí využití jeho aktivních fotonových struktur v analytických metodách na svazku. Implantace erbia probíhala iontovou výměnou z taveniny za ionty Li ze specielně navržených skelných substrátů. Složení opticky aktivních vrstev bylo studováno pomocí takových analytických metod na svazku jako např. RBS, PIXE. Metoda NDP (Neutronové hloubkové profilování) byla použita k vyhodnocení změn v rozdělení iontů Li+ u povrchu vyrobených vzorků. Viděli jsme mělké profily erbia, které byly doprovázeny mobilnějšími ionty Cs+ a Rb+, které byly uloženy v podstatně hlubších vrstvách než Er. Koncentrace Li ve skelných substrátech je ve skutečnosti ten nejdůležitější parametr pro difúzi Er do skelných substrátů. (cs)
|
| Title
| - RBS, PIXE a NDP byly použity ke studiu inkorporace erbia do povrchu skla pro světelné aplikace
- RBS, PIXE a NDP byly použity ke studiu inkorporace erbia do povrchu skla pro světelné aplikace (cs)
- RBS, PIXE and NDP study of erbium incorporation into glass surface for photonics applications (en)
|
| skos:prefLabel
| - RBS, PIXE a NDP byly použity ke studiu inkorporace erbia do povrchu skla pro světelné aplikace
- RBS, PIXE a NDP byly použity ke studiu inkorporace erbia do povrchu skla pro světelné aplikace (cs)
- RBS, PIXE and NDP study of erbium incorporation into glass surface for photonics applications (en)
|
| skos:notation
| - RIV/26722445:_____/06:CV000002!RIV07-MSM-26722445
|
| http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/26722445:_____/06:CV000002
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - surface analysis; RBS; PIXE; NDP; photonics glass; Er diffusion (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...odStatuVydavatele
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B
|
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
| http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
| issn
| |
| number of pages
| |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)