About: Optimalizace monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) pro měření zbytkových deformací/napětí

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Optimalizace monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) pro měření zbytkových deformací/napětí – 2. část Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Optimalizované uspořádání difraktometru pro měření zbytkových deformací pomocí zakřiveného krystalického monochromátorů poskytuje dobrou luminositu a vysoké rozlišení Dd/d v blízkosti obvykle používaného u úhlu rozptylu 2qs » ±90°. Protože se používají difraktometry různého uspořádání, které mohou být instalovány při konstantních anebo různých úhlech výletu, je málo experimentálních údajů poskytujících pomoc při výběru parametrů pro optimální výkon. Jako doplněk k našim dřívějším výzkumům s použitím zakřiveného Si(311) monochromatoru nasazeného v různých rozptylových geometriích jsou zde uváděny výsledky získané pro kvalitu monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) jako dalšího kandidáta, který může být použit jako monochoramátor pro difraktometry zbytkových deformací. Optimalizované uspořádání difraktometru pro měření zbytkových deformací pomocí zakřiveného krystalického monochromátorů poskytuje dobrou luminositu a vysoké rozlišení Dd/d v blízkosti obvykle používaného u úhlu rozptylu 2qs » ±90°. Protože se používají difraktometry různého uspořádání, které mohou být instalovány při konstantních anebo různých úhlech výletu, je málo experimentálních údajů poskytujících pomoc při výběru parametrů pro optimální výkon. Jako doplněk k našim dřívějším výzkumům s použitím zakřiveného Si(311) monochromatoru nasazeného v různých rozptylových geometriích jsou zde uváděny výsledky získané pro kvalitu monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) jako dalšího kandidáta, který může být použit jako monochoramátor pro difraktometry zbytkových deformací. (cs) Optimized diffractometer arrangements for residual strain measurements employing curved crystal monochromators provide good luminosity and a high Dd/d resolution in the vicinity of usually used scattering angle 2qs » ±90°. Due to a variety of designs of the diffractometers which could be installed at a constant or different take-off angles, except a few attempts, there is a lack of experimental evidence providing a help in a choice of parameters for an optimum performance. In addition to our earlier investigations with curved Si(311) monochromator employed in different diffraction geometries, the present paper presents the monochromator properties of cylindrically bent perfect Si(220) crystals as another candidate to be used as monochromator in residual strain diffractometers. (en)
Title	Optimalizace monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) pro měření zbytkových deformací/napětí – 2. část Optimization of bent perfect Si(220)-crystal monochromator for residual strain/stress instrument-Part II (en) Optimalizace monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) pro měření zbytkových deformací/napětí – 2. část (cs)
skos:prefLabel	Optimalizace monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) pro měření zbytkových deformací/napětí – 2. část Optimization of bent perfect Si(220)-crystal monochromator for residual strain/stress instrument-Part II (en) Optimalizace monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) pro měření zbytkových deformací/napětí – 2. část (cs)
skos:notation	RIV/26722445:_____/05:#0000007!RIV06-MSM-26722445
http://linked.open.../vavai/riv/strany	70-75
http://linked.open...avai/riv/aktivita	Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	Z(MSM2672244501)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika	1-4
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2006
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Mikula, Pavel
http://linked.open.../riv/druhVysledku	J - Článek v odborném periodiku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Centrum výzkumu Řež s.r.o.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	534791
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/26722445:_____/05:#0000007
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	neutron monochromator; residual stress measurement; bent perfect crystal; neutron diffraction (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	bent perfect crystal residual stress measurement neutron diffraction neutron monochromator
http://linked.open...odStatuVydavatele	NL - Nizozemsko
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[DFD79FECAF36]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Physica B
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BG
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	10 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2005
http://linked.open...v/svazekPeriodika	368
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Mikula, Pavel
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Basic Research and Oriented Research in Industry and Medicine using Neutron Sources
issn	0921-4526
number of pages	6 (xsd:int)

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software