Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Estimation of testability parameter of a digital circuit strongly depends on quality of input information utilized for the estimation by a testability analysis method. In the paper, it is illustrated how the information can be encoded, utilized and extracted from design-related data. For each component from a library of basic design components, the information can be stored in the library together with other data in order to be utilized for analysis of any future design based on components from the library.
- Estimation of testability parameter of a digital circuit strongly depends on quality of input information utilized for the estimation by a testability analysis method. In the paper, it is illustrated how the information can be encoded, utilized and extracted from design-related data. For each component from a library of basic design components, the information can be stored in the library together with other data in order to be utilized for analysis of any future design based on components from the library. (en)
- Odhad testovatelnosti číslicového obvodu silně závisí na kvalitě vstupní informace využité pro účely odhadu metodou analýzy testovatelnosti. V článku je ilustrován princip, na jehož základě je tato informace reprezentována, využita a získána z návrhového popisu prvků. Tuto informaci lze pro každý prvek z knihovny základních návrhových prvků uložit do knihovny spolu s dalšími daty a zajistit tak využití této informace při analýze jakýchkoli budoucích obvodových návrhů stavějících na prvcích z této knihovny. (cs)
|
Title
| - On Encoding and Utilization of Diagnostic Information Extracted from Design-Data for Testability Analysis Purposes
- O způsobu reprezentace a využití diagnostické informace získané pro účely analýzy testovatelnosti z návrhového popisu prvků (cs)
- On Encoding and Utilization of Diagnostic Information Extracted from Design-Data for Testability Analysis Purposes (en)
|
skos:prefLabel
| - On Encoding and Utilization of Diagnostic Information Extracted from Design-Data for Testability Analysis Purposes
- O způsobu reprezentace a využití diagnostické informace získané pro účely analýzy testovatelnosti z návrhového popisu prvků (cs)
- On Encoding and Utilization of Diagnostic Information Extracted from Design-Data for Testability Analysis Purposes (en)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26230/07:PU70843!RIV08-MSM-26230___
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(GP102/05/P193), Z(MSM0021630528)
|
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26230/07:PU70843
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - boolean function, diagnostic information, encoding, horizontal line test, injection, mapping, surjection, transparency extraction, testability analysis, truth table (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Proceedings of the 6th Electronic Circuits and Systems Conference
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| - Slovenská technická univerzita v Bratislave
|
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |