| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| rdfs:seeAlso
| |
| Description
| - Optický systém pro měření tloušťky s rozlišením 1 um. Tento optický systém je využitelný zejména pro měření tloušťkových rozměrů využitím charakteristické vlastnosti mikroskopu, tzv. velmi malé hloubky ostrosti. Metodika měření je optická, to znamená, že je systém bezkontaktní a lze měřit i pastovité materiály. Toto zařízení slouží také pro vizualizaci s velkým optickým zvětšením a přitom vysokou ostrostí, která je zajištěna násobným sklkádáním obrazů s malou hloubkou ostrosti.
- Optický systém pro měření tloušťky s rozlišením 1 um. Tento optický systém je využitelný zejména pro měření tloušťkových rozměrů využitím charakteristické vlastnosti mikroskopu, tzv. velmi malé hloubky ostrosti. Metodika měření je optická, to znamená, že je systém bezkontaktní a lze měřit i pastovité materiály. Toto zařízení slouží také pro vizualizaci s velkým optickým zvětšením a přitom vysokou ostrostí, která je zajištěna násobným sklkádáním obrazů s malou hloubkou ostrosti. (cs)
- Optical system for measuring the thickness with a resolution of 1 um. This optical system is usable particularly for measuring dimensions using tloušťkových characteristics of the microscope, the very shallow depth of field. The method of measurement is optical, it means that the system is contactless and can be measured and pasty materials. This device is also used for visualization with high optical magnification, while high definition, which is secured by multiple sklkádáním images with shallow depth of field. (en)
|
| Title
| - Optical system for measurement and visualization (en)
- Optický systém pro měření a vizualizaci
- Optický systém pro měření a vizualizaci (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Optical system for measurement and visualization (en)
- Optický systém pro měření a vizualizaci
- Optický systém pro měření a vizualizaci (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/00216305:26220/11:PR25658!RIV13-MSM-26220___
|
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...onomickeParametry
| - Optický systém propojuje mikroskop a kameru a vytváří tak optický celek pro pozorování a zpracování obrazu s popisovaným principem. Pro vytvoření tohoto pracoviště byl využit starší materiálový mikroskop a nově pořízený fotoaparát s možností využití kamery. Jako optická redukce bylo využito speciálně navržené a vyrobené předsádky. Obraz je dále počítačově zpracován do 3D modelu vytvořeného z fotografií. Ekonomický přínos této metody je vzhledem k finančním možnostem vysoký, jelikož došlo k napodobení funkce bezkontaktního typu profilometru v hodnotě 1.200.000.
|
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/11:PR25658
|
| http://linked.open...terniIdentifikace
| |
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open...vai/riv/kategorie
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - thickness, visualization, depth of field, noncontact, profilometer (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open.../licencniPoplatek
| |
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...echnickeParametry
| - Funkční vzorek je využíván na pracovišti řešitele Ústav mikroelektroniky, FEKT, VUT v Brně, Technická 3058/10, 616 00 Brno, Česká republika, IČ 00216305, DIČ CZ00216305. Měřící systém je schopen vytvořit prostorový obraz sledovaného objektu s vysokou hloubkou ostrosti. Naopak přitom využívá vlasností mikroskopů s vysokým zvětšením, kdy dochází k zaostření přenášeného obrazu pouze ve velmi omezené výškové hladině, což znamená snímání obrazu s nízkou hloubkou ostrosti.. Využívá se při výuce v laboratořích Mikroelektronických technologií při výuce předmětů Mikroelektronika a technologie součástek a Moderní technologie elektronických obvodů a systémů. Zařízení je dále využíváno studenty jako prostředek k realizaci jejich bakalářských, diplomových a disertačních prací z oblasti formování mikrostruktur v pájených spojích v různých atmosférách. Dále je zařízení využíváno při výzkumu v oblasti mikroelektronickýc
|
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Szendiuch, Ivan
- Buršík, Martin
- Jankovský, Jaroslav
- Řezníček, Michal
|
| http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
| http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
| http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
| http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)