Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - The paper deal with a review of measurement and good experimental bound charge in thin dielectric layers. The presence of charge in the passivation layers of solar cells is reflected in the so-called Back Surface Field (BSF) effect, which contributes to reducing the surface recombination velocity at the back of a solar cell. (en)
- Náplní článku je rešerše možností experimentálního měření vázaného náboje v tenkých dielektrických vrstvách. Přítomnost náboje v pasivačních vrstvách solárních článků se projevuje tzv. Back Surface Field (BSF) efektem, který přispívá ke snižování povrchové rekombinační rychlosti na zadní straně solárního článku.
- Náplní článku je rešerše možností experimentálního měření vázaného náboje v tenkých dielektrických vrstvách. Přítomnost náboje v pasivačních vrstvách solárních článků se projevuje tzv. Back Surface Field (BSF) efektem, který přispívá ke snižování povrchové rekombinační rychlosti na zadní straně solárního článku. (cs)
|
Title
| - DETEKCE NÁBOJE VÁZANÉHO V PASIVAČNÍCH VRSTVÁCH Detekce náboje vázaného v pasivačních vrstvách pro fotovoltaické křemíkové články
- DETEKCE NÁBOJE VÁZANÉHO V PASIVAČNÍCH VRSTVÁCH Detekce náboje vázaného v pasivačních vrstvách pro fotovoltaické křemíkové články (cs)
- Detection of fixed- charge in the passivation layers of silicon solar cells (en)
|
skos:prefLabel
| - DETEKCE NÁBOJE VÁZANÉHO V PASIVAČNÍCH VRSTVÁCH Detekce náboje vázaného v pasivačních vrstvách pro fotovoltaické křemíkové články
- DETEKCE NÁBOJE VÁZANÉHO V PASIVAČNÍCH VRSTVÁCH Detekce náboje vázaného v pasivačních vrstvách pro fotovoltaické křemíkové články (cs)
- Detection of fixed- charge in the passivation layers of silicon solar cells (en)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/10:PU91008!RIV11-MSM-26220___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/10:PU91008
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - passivation layer, fixed charge, Back Surface Field, surface voltage, contact angle, solar cell, Corona (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektonických systémech a nanotechnologiích
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Boušek, Jaroslav
- Hégr, Ondřej
|
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| |
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |