Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Náplní článku je rešerše možností experimentálního měření vázaného náboje v tenkých dielektrických vrstvách pomocí povrchové napětí a popis úvodních experimentů. V práci jsou popsána experimentální měření dielektrických vrstev Al2O3, AlN, SiNx, Y2O3 deponovaných na krystalickém křemíku. Povrchové napětí (tj. volná povrchová energie) je vyhodnocováno z velikosti úhlu smáčení (kontaktního úhlu) pomocí See Systemu.
- Náplní článku je rešerše možností experimentálního měření vázaného náboje v tenkých dielektrických vrstvách pomocí povrchové napětí a popis úvodních experimentů. V práci jsou popsána experimentální měření dielektrických vrstev Al2O3, AlN, SiNx, Y2O3 deponovaných na krystalickém křemíku. Povrchové napětí (tj. volná povrchová energie) je vyhodnocováno z velikosti úhlu smáčení (kontaktního úhlu) pomocí See Systemu. (cs)
- This work is deal with development of alternative method measuring fixed charge in thin dielectric layers by surface tension. Presence fixed charge takes effect so-called Back Surface Field (BFS), which helps to decrease surface recombination velocity on back side of solar cell. In work is described experimental measuring on dielectric layers Al2O3, AlN, SiNx, Y2O3 deposit on crystalline silicon wafers. Surface tension (it is the same like surface free energy) is analyzed from contact angle size using See System. (en)
|
Title
| - Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků
- Fixed-charge measurement of passivation layers for silicon solar cells (en)
- Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků (cs)
|
skos:prefLabel
| - Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků
- Fixed-charge measurement of passivation layers for silicon solar cells (en)
- Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků (cs)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/10:PU90214!RIV11-MSM-26220___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/10:PU90214
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - Passivation layers, Antireflection coating, Fixed charge, Back surface field, Surface free energy, Surface tension, Contact angle, See System, Solar cell (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektonických systémech a nanotechnologiích
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Boušek, Jaroslav
- Hégr, Ondřej
- Mojrová, Barbora
|
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| |
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |