About: Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	U polovodičových PN přechodů se vlivem nedokonalostí při výrobě mohou vyskytovat lokální defekty. Jednou z možností jak posoudit tyto nedokonalosti nedestruktivní metodou, je využít přítomnosti mikroplazmatického šumu při závěrně polarizovaném přechodu. Šum mikroplazmy se projevuje ve formě dvou nebo více hladinových pravoúhlých impulzů. Pokud je pro měření použit napěťový zdroj, je mikroplazmatický šum charakteristický konstantní amplitudou, náhodným okamžikem vzniku a náhodnou dobou trvání. Tento šum patří do kategorie impulsního šumu, který je způsoben lokálními lavinovými výboji v malé oblasti přechodu a v místech, kde dislokace protíná PN přechod. Tento druh šumu lze nalézt u mnoha typů součástek jako například GaAsP LED diod, vysokonapěťových diod a je přítomný i u námi zkoumaných vzorků solárních článků. Ukazuje se, že studiem mikroplazmatického šumu lze získat velmi cenné informace o přechodu a je velm U polovodičových PN přechodů se vlivem nedokonalostí při výrobě mohou vyskytovat lokální defekty. Jednou z možností jak posoudit tyto nedokonalosti nedestruktivní metodou, je využít přítomnosti mikroplazmatického šumu při závěrně polarizovaném přechodu. Šum mikroplazmy se projevuje ve formě dvou nebo více hladinových pravoúhlých impulzů. Pokud je pro měření použit napěťový zdroj, je mikroplazmatický šum charakteristický konstantní amplitudou, náhodným okamžikem vzniku a náhodnou dobou trvání. Tento šum patří do kategorie impulsního šumu, který je způsoben lokálními lavinovými výboji v malé oblasti přechodu a v místech, kde dislokace protíná PN přechod. Tento druh šumu lze nalézt u mnoha typů součástek jako například GaAsP LED diod, vysokonapěťových diod a je přítomný i u námi zkoumaných vzorků solárních článků. Ukazuje se, že studiem mikroplazmatického šumu lze získat velmi cenné informace o přechodu a je velm (cs) This article deals with the application of noise measurements for the assessment of the quality of the solar cell itself and production technology alike. The main focus of this study is the random n-level (in most case just two-level) impulse noise, usually referred to as microplasma noise. This noise is a consequence of local breakdowns in micro-sized regions and brings about a reduction of lifetime or a destruction of the PN junction. The method is suitable for non-destructive testing of semiconductor devices. Here we pay attention to very large junctions of the solar cells. (en)
Title	Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii (cs) Non-destructive tensting of solar cell based on noise spectroscopy (en)
skos:prefLabel	Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii (cs) Non-destructive tensting of solar cell based on noise spectroscopy (en)
skos:notation	RIV/00216305:26220/08:PU76331!RIV10-GA0-26220___
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(GA102/06/1551)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2010
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Škarvada, Pavel Koktavý, Pavel Macků, Robert
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	382053
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/08:PU76331
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Solar cell, microplazma noise, IV curve (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	Solar cell IV curve microplazma noise
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[1BCA21601443]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Brno
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Rožnov pod Radhoštěm
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BM
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation
http://linked.open...UplatneniVysledku	2008
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Koktavý, Pavel Macků, Robert Škarvada, Pavel
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	EUR - Evropská
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2008-11-03 (xsd:date)
number of pages	5 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	Czech RE Agency
https://schema.org/isbn	978-80-254-3528-1
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software