Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Náhodné dvojhladinové proudové impulzy můžeme sledovat u elektronických součástek, které využívají závěrně polarizovaný PN přechod. Tyto impulzy jsou obvykle obdélníkové a jsou charakteristické konstantní amplitudou, náhodnou dobou trvání a náhodným okamžikem vzniku. Z experimentálně získaných výsledků statistických charakteristik byl získán model stochatistického generačně-rekombinačního procesu kterým můžeme popsat dvojhladinový impulzní šum. V tomto článku je popisováno zařízení pro měření statistických charakteristik v širokém časovém rozsahu. Získané závěry můžou být použity pro nedestruktivní hodnocení kvality PN přechodu. (cs)
- Random two-level current impulses may occur in electronic devices containing reverse biased p-n junctions in a certain operating mode. These impulses are usually rectangular, featuring constant amplitude, random pulse width and pulse origin time points. Based on experiment results, a two-state model of stochastic generation-recombination process has been elaborated for the two-level impulse noise allowing to derive some statistical characteristics of this process. A device for measurement of statistical characteristics in a wide range of time is described in this paper. Thus obtained results may be used for p-n junction non-destructive diagnostics and quality assessment.
- Random two-level current impulses may occur in electronic devices containing reverse biased p-n junctions in a certain operating mode. These impulses are usually rectangular, featuring constant amplitude, random pulse width and pulse origin time points. Based on experiment results, a two-state model of stochastic generation-recombination process has been elaborated for the two-level impulse noise allowing to derive some statistical characteristics of this process. A device for measurement of statistical characteristics in a wide range of time is described in this paper. Thus obtained results may be used for p-n junction non-destructive diagnostics and quality assessment. (en)
|
Title
| - Device for statistical characteristics of microplasma noise measurment
- Zařízení pro měření statistických charakteristik mikroplazmatického šumu (cs)
- Device for statistical characteristics of microplasma noise measurment (en)
|
skos:prefLabel
| - Device for statistical characteristics of microplasma noise measurment
- Zařízení pro měření statistických charakteristik mikroplazmatického šumu (cs)
- Device for statistical characteristics of microplasma noise measurment (en)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/07:PU70073!RIV08-GA0-26220___
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(GA102/06/1551), Z(MSM0021630503)
|
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/07:PU70073
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - Microplasma noise, Statistical characteristics, A-type noise, Impulse duration, Impulse separation (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Koktavý, Pavel
- Macků, Robert
|
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| |
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |