About: Testing of solar cells using fast transients     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
Description
  • Parametry náhradního schématu jsou pro určení vlastností solárních článků velmi důlažité. V článku je popsána charakterizace solárních článků založená na měření odezvy článku na přechodné děje. Lze snadno určit závěrné napětí přechodu, šířku oblasti prostorového náboje, difúzní a bariérovou kapacitu přechodu, paralelní a sériový odpor a dobu života minoritních nosičů. Měření a vyhodnocení jsou velmi jednoduché a nejsou zapotřebí speciální a drahé přístroje. Pro potlačení vlivu geometrické kapacity přechodu bylo používáno předpětí v rozsahu 400 - 500 mV. Předpětí bylo nastaveno pomocí proudového impulsu za temna nebo pomocí osvětlení. Je uvedeno blokové schéma zařízení a jsou diskutovány parametry naměřené u solárních článků různé kvality. (cs)
  • In solar cell diagnostic the parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and capacitance, serial and parallel resistance and lifetime of minority carriers are of great importance. To measure electric parameters standard method for measurement of substitute scheme can be used except measurement of reverse breakdown voltage because of large reverse current by some cells. Minority carrier lifetime estimation is more complicated. In fact there are few methods for measurement of minority carriers lifetime on unprocessed substrate, but this methods are not applicable easily on solar cells. Characterization of solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients is described. The measurement and evaluation procedure is very simple and no expensive devices are needed. Estimating the recombination time there is a problem with influence of the depletion layer capacitance, which masks the recombination phenomena. Because relatively high doping level by standard silicon
  • In solar cell diagnostic the parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and capacitance, serial and parallel resistance and lifetime of minority carriers are of great importance. To measure electric parameters standard method for measurement of substitute scheme can be used except measurement of reverse breakdown voltage because of large reverse current by some cells. Minority carrier lifetime estimation is more complicated. In fact there are few methods for measurement of minority carriers lifetime on unprocessed substrate, but this methods are not applicable easily on solar cells. Characterization of solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients is described. The measurement and evaluation procedure is very simple and no expensive devices are needed. Estimating the recombination time there is a problem with influence of the depletion layer capacitance, which masks the recombination phenomena. Because relatively high doping level by standard silicon (en)
Title
  • Testing of solar cells using fast transients
  • Testování solárních článků pomocí přechodových dějů (cs)
  • Testing of solar cells using fast transients (en)
skos:prefLabel
  • Testing of solar cells using fast transients
  • Testování solárních článků pomocí přechodových dějů (cs)
  • Testing of solar cells using fast transients (en)
skos:notation
  • RIV/00216305:26220/06:PU65081!RIV07-MSM-26220___
http://linked.open.../vavai/riv/strany
  • 253-258
http://linked.open...avai/riv/aktivita
http://linked.open...avai/riv/aktivity
  • Z(MSM0021630503)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
http://linked.open...aciTvurceVysledku
http://linked.open.../riv/druhVysledku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
http://linked.open...titaPredkladatele
http://linked.open...dnocenehoVysledku
  • 503571
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
  • RIV/00216305:26220/06:PU65081
http://linked.open...riv/jazykVysledku
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
  • Crystalline Silicon Solar Cells, Lifetime of minority carriers, Breakdown Voltage (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
  • [9668888252F1]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
  • Dresden
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
  • NEUVEDEN
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
  • 21st European Photovoltaic Solar Energy Conference
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
http://linked.open...UplatneniVysledku
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
  • Poruba, Aleš
  • Boušek, Jaroslav
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
number of pages
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
  • Neuveden
https://schema.org/isbn
  • 3-936338-20-5
http://localhost/t...ganizacniJednotka
  • 26220
Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 91 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software