About: ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	The occurence of microplasma regions in PN junctions is attributed to crystal lattice imperfections. As a rule, these regions feature lower strong-field avalanche ionization breakdown voltages than other homogenous PN junction regions. The existence of such regions may lead to local avalanche breakdowns occuring in reverse-biased PN junctions at certain voltage. These local avalanche breakdowns affect course of VA characteristics. VA characteristics can exhibit regions with negative differential resistance in certain conditions and number of these regions correspond to number of microplasma regions in PN junction. (en) Vznik šumu mikroplazmy je podmíněn nedokonalostmi krystalické mřížky PN přechodu. Oblasti těchto defektů se mohou vyznačovat nižší hodnotou průrazného napětí v závěrném stavu než zbytek PN přechodu. Při dosažení určité hodnoty napětí na PN přechodu potom dochází v jejich okolí k lokálním lavinovým průrazům. Tyto lokální průrazy se pak mohou projevovat ve vnějším obvodě impulzním proudovým šumem, kdy jednotlivé impulzy mají náhodnou dobu vzniku a náhodnou dobu trvání. Proudový šum je závislý na napětí, s rostoucí hodnotou závěrného napětí na PN přechodu roste četnost impulzů a zároveň i jejich střední doba trvání. Bistabilní chování oblasti mikroplazmy lze pak za určitých okolností popsat dvoustavovým stochastickým procesem generace – rekombinace. Vznik šumu mikroplazmy je podmíněn nedokonalostmi krystalické mřížky PN přechodu. Oblasti těchto defektů se mohou vyznačovat nižší hodnotou průrazného napětí v závěrném stavu než zbytek PN přechodu. Při dosažení určité hodnoty napětí na PN přechodu potom dochází v jejich okolí k lokálním lavinovým průrazům. Tyto lokální průrazy se pak mohou projevovat ve vnějším obvodě impulzním proudovým šumem, kdy jednotlivé impulzy mají náhodnou dobu vzniku a náhodnou dobu trvání. Proudový šum je závislý na napětí, s rostoucí hodnotou závěrného napětí na PN přechodu roste četnost impulzů a zároveň i jejich střední doba trvání. Bistabilní chování oblasti mikroplazmy lze pak za určitých okolností popsat dvoustavovým stochastickým procesem generace – rekombinace. (cs)
Title	ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE Microplasma noise - finding G-R coefficients (en) ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE (cs)
skos:prefLabel	ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE Microplasma noise - finding G-R coefficients (en) ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE (cs)
skos:notation	RIV/00216305:26220/06:PU63750!RIV07-GA0-26220___
http://linked.open.../vavai/riv/strany	135-138
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(GA102/06/1551), Z(MSM0021630503)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2007
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Koktavý, Pavel Raška, Michal
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	502457
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/06:PU63750
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	PN jnction, semicondactor, breakdown, avalanche, generation, recombination (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	breakdown recombination generation avalanche PN jnction semicondactor
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[2ABB99F7037E]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Brno
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Brno
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Non-Destructive Testing in Engineering Practice
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation
http://linked.open...UplatneniVysledku	2006
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Koktavý, Pavel Raška, Michal
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	EUR - Evropská
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2006-11-29 (xsd:date)
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích (MIKROSYN)
number of pages	4 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	Vysoké učení technické v Brně
https://schema.org/isbn	80-7204-487-7
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 48 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software