Cílem práce je zlepšení životnosti pájených SMD součástek, pomocí programu ANSYS. Testovaná struktura je podrobena zkoušce teplotního cyklování v rozmezí od -40 do 120 °C. Dále potom se určí nejvíce namáhané místo v pájeném spoji.
Cílem práce je zlepšení životnosti pájených SMD součástek, pomocí programu ANSYS. Testovaná struktura je podrobena zkoušce teplotního cyklování v rozmezí od -40 do 120 °C. Dále potom se určí nejvíce namáhané místo v pájeném spoji. (en)
Cílem práce je zlepšení životnosti pájených SMD součástek, pomocí programu ANSYS. Testovaná struktura je podrobena zkoušce teplotního cyklování v rozmezí od -40 do 120 °C. Dále potom se určí nejvíce namáhané místo v pájeném spoji. (cs)