This article give notice about SMT process yield assesment, basic requirements and principles of the yield measurement process application. The article also presents metrics for estimatin and evaluating process yield, which can be mathematically related to other six sigma metrics such as defect rate, sigma level, process capbality indices. (en)
Článek se zabývá hodnocením výtěžnosti v procesech osazování desek plošných spojů. Jsou prezentovány možné přístupy i měřítka sledování výtěžnosti procesu.