Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Device consists of motorized microscope XY-manipulator and control electronics. The electronics controls motors and positions silicon wafer with micrometer precision. It enables taking photos of whole silicon wafer surface. Software analyse photos of silicon wafer surface and detects number and position of defects (OISF). (en)
- Zařízení se skládá z motorizovaného manipulačního stolku mikroskopu a řídící elektroniky. Elektronika ovládá motory stolku a polohuje křemíkovou desku s přesností na několik mikrometrů. Umožňuje tak snímat mikroskopem povrch celé křemíkové desky. Software analyzuje snímky povrchu křemíkových desek a detekuje počet a rozmístění vrstevných chyb (OISF).
- Zařízení se skládá z motorizovaného manipulačního stolku mikroskopu a řídící elektroniky. Elektronika ovládá motory stolku a polohuje křemíkovou desku s přesností na několik mikrometrů. Umožňuje tak snímat mikroskopem povrch celé křemíkové desky. Software analyzuje snímky povrchu křemíkových desek a detekuje počet a rozmístění vrstevných chyb (OISF). (cs)
|
Title
| - Device for silicon wafer analysis (en)
- Zařízení na analýzu křemíkových desek
- Zařízení na analýzu křemíkových desek (cs)
|
skos:prefLabel
| - Device for silicon wafer analysis (en)
- Zařízení na analýzu křemíkových desek
- Zařízení na analýzu křemíkových desek (cs)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26210/12:PR26504!RIV13-MSM-26210___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...onomickeParametry
| - Náklady na výrobu byly 90 000Kč. Doba vývoje zařízení a software přesáhla několik set hodin. Zařízení využíváno firmou ON Semiconductor Czech Republic, s.r.o., právní nástupce - výroba křemíku, výroba čipů 1. máje 2230, 756 61 Rožnov pod Radhoštěm, IČO: 26821532 na základě smlouvy.
|
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26210/12:PR26504
|
http://linked.open...terniIdentifikace
| |
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open...vai/riv/kategorie
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - device, silicon wafer, defects, manipulator, image processing (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...echnickeParametry
| - Polohování křemíkové desky s mikrometrovou přesností. Umožňuje snímat desky všech běžných velikostí (2 až 8 palců). Software dokáže snímat křemíkové desky všech vyráběných velikostí. Snímání lze nastavit přes průměr nebo na libovolné ploše. Defekty detekuje od velikosti 5px a umí rozlišit dva hlavní typy defektů. Umožňuje export do tabulkového editoru.
|
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Šikola, Tomáš
- Šulc, Dalibor
- Páleníček, Michal
- Wertheimer, Pavel
|
http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |