Příspěvek diskutuje základní metody pro kalibraci vektorového analyzátoru obvodů v submilimetrových pásmech a následně metody pro určení materiálových parametrů z měřených S-parametrů.
Příspěvek diskutuje základní metody pro kalibraci vektorového analyzátoru obvodů v submilimetrových pásmech a následně metody pro určení materiálových parametrů z měřených S-parametrů. (cs)
The paper presents basic methods for calibration of a vector network analyzer in millimeter and sub-millimeter frequency bands. A method for determining of intrinsic material properties from measured scattering parameters is presented. (en)