| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - The measuring device by technical solution will be applied mainly in the sphere of detail measuring and for control of surface relief quality in agriculture and forestry e.g. for measuring of quality of soil cultivation and preparation, for control of vegetation surface state etc., in civil engineering or water management for foundation and surveying of buildings. So far known devices for surface profile measuring are designed on principle, i.e. mechanical or contact less by means of ultra – sound, frequency or other sensors. Their drawback is ability to register of relative small surface to 1 m2 with particles of 5 mm minimum. The mechanical contact devices have drawback in their high weight and complicated evaluation of measured data and their large inaccuracy. The new device of the use model does remove that drawback and its kit design with laser measuring sensor allows the digital mapping of large surfaces profiles of 10 m2 and even more. (en)
- Měřící zařízení podle technického řešení nalezne uplatnění zejména v oblasti detailního měření a při kontrole kvality reliéfu povrchů v zemědělství a lesnictví např. zejména při měření kvality zpracování a přípravy půdy, dále při kontrole stavu povrchu porostů apod., ve stavebnictví či vodohospodářství při měření povrchů pro zakládání a vytyčování staveb. Dosud známá provedení zařízení na měření profilů povrchů jsou konstruována na principu kontaktním tj. mechanickým způsobem a nebo i bezkontaktně pomocí ultrazvukových, frekvenčních a jiných čidel. Jejich nevýhodou je schopnost zaevidovat profil poměrně malých ploch povrchů do 1m2 o velikosti částic minimálně 5mm. U mechanických kontaktních zařízení je nevýhodou i jejich vysoká hmotnost a obtížnost vyhodnocování naměřených dat a jejich velká nepřesnost. Zařízení dle užitného vzoru tuto nevýhodu odstraňuje a jeho stavebnicové provedení s laserovým měřícím čidlem umožňuje digitální zmapování profilů velkých ploch povrchů 10 i více m2.
- Měřící zařízení podle technického řešení nalezne uplatnění zejména v oblasti detailního měření a při kontrole kvality reliéfu povrchů v zemědělství a lesnictví např. zejména při měření kvality zpracování a přípravy půdy, dále při kontrole stavu povrchu porostů apod., ve stavebnictví či vodohospodářství při měření povrchů pro zakládání a vytyčování staveb. Dosud známá provedení zařízení na měření profilů povrchů jsou konstruována na principu kontaktním tj. mechanickým způsobem a nebo i bezkontaktně pomocí ultrazvukových, frekvenčních a jiných čidel. Jejich nevýhodou je schopnost zaevidovat profil poměrně malých ploch povrchů do 1m2 o velikosti částic minimálně 5mm. U mechanických kontaktních zařízení je nevýhodou i jejich vysoká hmotnost a obtížnost vyhodnocování naměřených dat a jejich velká nepřesnost. Zařízení dle užitného vzoru tuto nevýhodu odstraňuje a jeho stavebnicové provedení s laserovým měřícím čidlem umožňuje digitální zmapování profilů velkých ploch povrchů 10 i více m2. (cs)
|
| Title
| - Zařízení pro bezkontaktní měření profilů velkých plošných povrchů.
- System for contacts less measuring of large surface profiles (en)
- Zařízení pro bezkontaktní měření profilů velkých plošných povrchů. (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Zařízení pro bezkontaktní měření profilů velkých plošných povrchů.
- System for contacts less measuring of large surface profiles (en)
- Zařízení pro bezkontaktní měření profilů velkých plošných povrchů. (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/00027031:_____/06:#0000053!RIV07-MZE-00027031
|
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...onomickeParametry
| - Výrazná úspora času při měření a jeho vyhodnocování a s tím souvisejících nákladů – cca 5x rychleji než při klasických metodách.
|
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00027031:_____/06:#0000053
|
| http://linked.open...terniIdentifikace
| |
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open...vai/riv/kategorie
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - profiles measuring, contact less profile-graph, laser sensor (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open.../licencniPoplatek
| |
| http://linked.open...okalizaceVysledku
| |
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...echnickeParametry
| - Mapování profilů a ploch povrchů 1–5 m2 (stavebnice do 10 m2); velikost měřených částic od 2 mm; minimální krok 20 mm v ose x a 50 mm v ose y; rychlost záznamu měření do 40 ms; odchylka měření výšky 1 mm; nastavení výšky nad měřeným povrchem 0,1–1,35 m.
|
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Kovaříček, Pavel
- Mayer, Václav
- Prošek, Václav
|
| http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
| http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
| http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)