Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - The total internal reflection ellipsometry on the base of coupling prism is described. The problem is solved by Fourier modal method applied using T-matrix algorithm to find diffraction response from multilayer system. Resulting values of ellipsometric parameters ∆ and ψ are studied at the incidence angle interval from 0 to 90 deg for dielectric and metallic lamellar systems. The material influences of the thin air gap thickness are discussed, too.
- The total internal reflection ellipsometry on the base of coupling prism is described. The problem is solved by Fourier modal method applied using T-matrix algorithm to find diffraction response from multilayer system. Resulting values of ellipsometric parameters ∆ and ψ are studied at the incidence angle interval from 0 to 90 deg for dielectric and metallic lamellar systems. The material influences of the thin air gap thickness are discussed, too. (en)
- Je popisována elipsometrie při úplném vnitřním odrazu na principu vazebního hranolu. Úloha je řešena Fourierovou modální metodou aplikací T-maticového algoritmu při určení difrakční odezvy od multivrstvy. Výsledné hodnoty elipsometrických úhlů jsou studovány pro úhly dopadu od 0 do 90 stupňů pro dielektrické i metalické lamelární systémy. Rovněž je studován vliv materiálových vlastností a tloušťky gapu. (cs)
|
Title
| - Total internal reflection ellipsometry of lamellar gratings
- Elipsometrie při úplném odrazu na lamelární mřížce (cs)
- Total internal reflection ellipsometry of lamellar gratings (en)
|
skos:prefLabel
| - Total internal reflection ellipsometry of lamellar gratings
- Elipsometrie při úplném odrazu na lamelární mřížce (cs)
- Total internal reflection ellipsometry of lamellar gratings (en)
|
skos:notation
| - RIV/61989100:27600/06:00013524!RIV07-GA0-27600___
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(1P05ME768), P(GA202/03/0776), S
|
http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/61989100:27600/06:00013524
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - ellipsometry; total reflection; lamellar gratings (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...odStatuVydavatele
| - US - Spojené státy americké
|
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - International Journal of Microwave and Optical Technology
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Antoš, Roman
- Pištora, Jaromír
- Postava, Kamil
- Vlček, Jaroslav
- Višňovský, Štefan
- Watanabe, Koki
- Yamaguchi, Tomuo
|
issn
| |
number of pages
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |