Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Booklet deals with low-frequency noise in electronic materials and devices and and its use as a diagnostic tool for device characterisation. Noise spectroscopy is very sensitive technique for analysis of bulk and interface defects, determining quality and reliability of electronic devices. Fluctuation phenomena in wide range of passive and active devices are discussed, comprising noise in tantalum capacitors, thick film resistors and field effect transistors, based either on silicon, or novel III-V heterostructures, such as InGaAs/InAlAs or GaN/AlGaN. (en)
- Publikace pojednává o problematice fluktuačních jevů při transportu náboje v polovodičových materiálech a součástkách a o aplikacích šumové spektroskopie pro odhad kvality a spolehlivosti pasivních i aktivních elektronických součástek
- Publikace pojednává o problematice fluktuačních jevů při transportu náboje v polovodičových materiálech a součástkách a o aplikacích šumové spektroskopie pro odhad kvality a spolehlivosti pasivních i aktivních elektronických součástek (cs)
|
Title
| - Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET
- Fluctuation phenomena in electronic devices: tantalum capacitors, thick film resistors and heterostructures FET (en)
- Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET (cs)
|
skos:prefLabel
| - Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET
- Fluctuation phenomena in electronic devices: tantalum capacitors, thick film resistors and heterostructures FET (en)
- Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET (cs)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/08:PU74378!RIV10-MSM-26220___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/08:PU74378
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - 1/f noise, RTS noise, reliability, NDT, GaN, InGaAs, MOSFET (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |