About: Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Jednou z možností jak získat informace o kvalitě pn přechodu nedestruktivní cestou je sledování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových zařízeních využívajících ke své činnosti pn přechod jako například usměrňovací diody, LED diody a solární články. Měření mikroplazmatického šumu pro měření solárních článků je relativně složité. Komplikace přinášejí především nízké úrovně měřených signálů, teplotní závislosti a velká náchylnost na rušení. Pro účely měření byl vyvinut obslužný software. Tento software nachází uplatnění tam kde je nezbytné precizní, rychlé a automatizované měření. Měření šumových proudů a VA charakteristik je prováděno současně a řeší tak problém s teplotní závislostí vzorku. Jednou z možností jak získat informace o kvalitě pn přechodu nedestruktivní cestou je sledování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových zařízeních využívajících ke své činnosti pn přechod jako například usměrňovací diody, LED diody a solární články. Měření mikroplazmatického šumu pro měření solárních článků je relativně složité. Komplikace přinášejí především nízké úrovně měřených signálů, teplotní závislosti a velká náchylnost na rušení. Pro účely měření byl vyvinut obslužný software. Tento software nachází uplatnění tam kde je nezbytné precizní, rychlé a automatizované měření. Měření šumových proudů a VA charakteristik je prováděno současně a řeší tak problém s teplotní závislostí vzorku. (cs) One way how we can get information about PN junction quality in non-destructive diagnostics is microplasma noise observation. The microplasma noise typically occurs in semiconductor devices with a PN junction e.g. silicon diodes, LED diodes (GaAsP) and solar cells. Microplasma noise measurement for studding the solar cells is quite difficult. A complication arises because of low level signal, temperature dependence and electromagnetic interference. For measurement purposes has been developed operating software. This software finds use where is essential precise and high speed automatic measurement. The noise current dependence of the reverse voltage and relationship with VA characteristics may be observed simultaneously. (en)
Title	Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise (cs) Narrowband noise measurement of solar cell - UniNoise (en)
skos:prefLabel	Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise (cs) Narrowband noise measurement of solar cell - UniNoise (en)
skos:notation	RIV/00216305:26220/08:PR23395!RIV10-MSM-26220___
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(GA102/06/1551), Z(MSM0021630503)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2010
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Škarvada, Pavel Macků, Robert
http://linked.open.../riv/druhVysledku	R - Software
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	378554
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/08:PR23395
http://linked.open...terniIdentifikace	UniNoise v.2.47
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	IV-characteristic, narrowband noise signal, pn junction, solar cell (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	pn junction solar cell IV-characteristic narrowband noise signal
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[A80F0589C278]
http://linked.open.../licencniPoplatek	N - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek
http://linked.open...okalizaceVysledku	http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86 Laboratoře UFYZ
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BM
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation
http://linked.open...UplatneniVysledku	2008
http://linked.open...echnickeParametry	Automatizovaný software, podporované komunikační rozhranní RS-232 a IEEE488 (GPIB), automatický sběr dat, využívá softwarový PID pro stabilizaci napětí na solárním článku, přehledové sledování měřených charakteristik, archivace a
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Macků, Robert Škarvada, Pavel
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Ústav fyziky
http://linked.open...itiJinymSubjektem	A - Nabytí licence je nutné vždy
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích (MIKROSYN)
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 112 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software