About: Semiconductors - local optical and electrical properties

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Semiconductors - local optical and electrical properties Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt
rdfs:seeAlso	http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=ME 544
Description	The progress in nanotechnology and nanometrology has led to the interests in the application of techniques using the superresolution of scanning near field optical microscpes. The Laboraty of Optical Nanometrology of Brno University of Technology is sing, le laboratory in the Czech Republic working out this subject of investigation i.e. the study of local optical and electrical properties with the resolution better than 250 nm. Objectives: 1. Study of probe-sample interaction- influence of m mmetallizatio, n and form of the probe on the microscope resolution, study of signal-to-noise ratio. 2. Study of polarisation phenomena, contrast mechanisms, influence of polychromatic light on the information processing. 3. Measurement of local spectroscopy of index o, f refraction, attenuated total internal reflection. 4. Measurement of local photoluminiscence. 5. Measurement of locally induced photocurrent. (en) Rychlý pokrok nanotechnologií a nanometrologie vzbudil v posledních letech značný zájem o techniky, využívající superrozlišení optických mikroskopů pracujících v optickém blízkém poli. Laboratoř Optické nanometrologie ústavu fyziky FEKT VUT v Brně je zat, ím jediným pracovištěm v ČR, které se systematicky zabývá problematikou, navrženou v cílech projektu. Ty spočívají zejména ve studiu optických a elektrických vlastností polovodičů s cílem dosáhnout vysoké příčné rozlišovací schopnosti (lepší než 250 nm), při studiu lokalizace a detekce daných jevů. Cíle: 1. Studium interakce mezi sondou a vzorkem. 2. Studium polarizace a jevů kontrastu. 3. Měření lokální spektroskopie indexu lomu, zeslabeného úplného vnitřního odrazu. 4. Měřerní lokální fotoluminiscence., 5. Měření lokálně indukovaného fotoproudu.
Title	Semiconductors - local optical and electrical properties (en) Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti
skos:notation	ME 544
http://linked.open...avai/cep/aktivita	KONTAKT
http://linked.open...kovaStatniPodpora	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/ME+544/celkovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/ME+544/celkoveNaklady
http://linked.open...datumDodatniDoRIV	2008-06-02 (xsd:date)
http://linked.open...i/cep/druhSouteze	VS - Veřejná soutěž ve výzkumu a vývoji
http://linked.open...ep/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open.../cep/fazeProjektu	1707157
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor	BH - Optika, masery a lasery
http://linked.open...hodnoceniProjektu	U - Uspěl podle zadání, tj. byly splněny cíle a jeho předpokládané výsledky uvedené ve smlouvě / rozhodnutí o poskytnutí podpory
http://linked.open...vai/cep/kategorie	NV - Aplikovaný výzkum s výjimkou průmyslového výzkumu (tzv. %22neprůmyslový výzkum%22)
http://linked.open.../cep/klicovaSlova	semiconductor; optical characteristics; electrical characteristics; near-field optics; nanometrology (en)
http://linked.open...ep/partnetrHlavni	Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...inujicichPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu	1 (xsd:int)
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV	38 (xsd:int)
http://linked.open...enychVysledkuVRIV	38 (xsd:int)
http://linked.open...okUkonceniPodpory	2004
http://linked.open...okZahajeniPodpory	2002
http://linked.open...iciPoslednihoRoku	2005
http://linked.open...atUdajeProjZameru	2005
http://linked.open.../vavai/cep/soutez	SMSM200232001
http://linked.open...usZobrazovaneFaze	DUU
http://linked.open...ai/cep/typPojektu	P - Projekt výzkumu a vývoje financovaný ze státního rozpočtu
http://linked.open.../cep/vedlejsiObor	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://linked.open...jektu+dodavatelem	studium lokálních optických a elektrických charakteristik polovodičových struktur (cs) study of local optical, electrical features of semicinductor structures (en)
http://linked.open...tniCyklusProjektu	ZBKU
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo	semiconductor electrical characteristics near-field optics optical characteristics
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/ME+544/2002/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/ME+544/2003/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/ME+544/2004/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/ME+544/2005/orjk%3A26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 41 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2025 OpenLink Software