Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
rdfs:seeAlso
| |
Description
| - V základním i aplikovaném výzkumu vede poptávka po nových materiálech či materiálech vykazujících určité vlatsnosti nevyhnutelně ke sloučeninám se složitější struktou a více prvky. Struktura těchto materiálů je spojena s náročnější přípravou, která často končí syntézou několikafázových vzorků s požadovanou fází zastoupenou pouze v mikroskopických oblastech. Ať už za účelem optimalizace přípravy, nebo jsou-li tyto fáze ve fromě kvalitních krystalických zrn předmětem zájmu dalšího studia, je nutné je pro základní charakterizaci ze vzorku izolovat. Tento projekt je zaměřen zavedení metody frézování fokusovaným iontovým svazkem (FIB) jako základní metody pro získávání krystalů z multifázových vzorků. Pro ukázku použitelnosti této alternativní metody v základním výzkumu, budou izolované vzorky opařeny elektrickými kontakty pomocí FIB indukované depozice. Fyzikální vlastnosti materiálu budou studovány měřením elektrického odporu za extrémních podmínek (nízké teploty, vysoká magnetická pole) a v různém uspořádání.
- The demand for new materials or materials which exhibit specific properties in applied as well as in fundamental research inevitably leads to compounds containing more elements and larger unit cells. The complexity of these new materials makes synthesizing difficult resulting often in multiphase samples in which the desired composition exists as a micro-size inclusion. In either way, to judge if further growth attempts are reasonable or these grains of small crystals are of particular interest because of high quality they need to be isolated in order to determine the properties. The proposal focuses on the implementation of Focused Ion Beam (FIB) technique as a standard method to deal with extracting desired phases out of multiphase samples. To show the applicability of FIB as alternative tool in fundamental research, the isolated micro-sample will be contacted using FIB induced metal devotion for various types of resistivity experiments to be conducted in extreme conditions (low temperature and high magnetic fields) in order to gain information about its basic properties. (en)
|
Title
| - Implementing focused ion beam technique for microfabrication of single crystals for electric transport studies (en)
- Užití fokusovaného iontového svazku pro mikroobrábění monokrystalů a studia jejich elektrických transportních vlastností
|
skos:notation
| |
http://linked.open...avai/cep/aktivita
| |
http://linked.open...kovaStatniPodpora
| |
http://linked.open...ep/celkoveNaklady
| |
http://linked.open...datumDodatniDoRIV
| |
http://linked.open...i/cep/druhSouteze
| |
http://linked.open...ep/duvernostUdaju
| |
http://linked.open.../cep/fazeProjektu
| |
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor
| |
http://linked.open...vai/cep/kategorie
| |
http://linked.open.../cep/klicovaSlova
| - Material Synthesis and Processing, Single crystal growth, Focused Ion Beam, Microfabrication, Electric Transport Properties. (en)
|
http://linked.open...ep/partnetrHlavni
| |
http://linked.open...inujicichPrijemcu
| |
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu
| |
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu
| |
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV
| |
http://linked.open...enychVysledkuVRIV
| |
http://linked.open...lneniVMinulemRoce
| |
http://linked.open.../prideleniPodpory
| |
http://linked.open...iciPoslednihoRoku
| |
http://linked.open...atUdajeProjZameru
| |
http://linked.open.../vavai/cep/soutez
| |
http://linked.open...usZobrazovaneFaze
| |
http://linked.open...ai/cep/typPojektu
| |
http://linked.open...ep/ukonceniReseni
| |
http://linked.open...ep/zahajeniReseni
| |
http://linked.open...tniCyklusProjektu
| |
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo
| - Focused Ion Beam
- Microfabrication
- Single crystal growth
- Material Synthesis and Processing
|
is http://linked.open...vavai/cep/projekt
of | |