About: Verification of the principle of zero - charging high resolution scanning electron microscopy and its applications.

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Verification of the principle of zero - charging high resolution scanning electron microscopy and its applications. Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt
rdfs:seeAlso	http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=GA202/96/0961
Description	The aim of the project is to verify the newly proposed principle of zero charging scanning electron microscosspy by adapting the existing scanning low energy electron microscope (SLEEM) to the proposed method of measurement and adjustment of the zero charging electron impact energies. SLEEM will be improved by additionally equipping it with an electronically controlled high voltage suplly for specimen biasing, and with a special scanning and detection electronic units for measurement of the signal - energy dependence, together with a software for controlling both the critical energy measurement and the microscopic imaging at critical energies, and in the final stage the microscope resolution will be improved by upgrading parts of the illumination system. The principle verification will be made by observing technical insulatos, and will be immediately applied to systematic studies of selected nonconductive materials. (en) Cílem projektu je ověřit navržený původní princip nenabíjející rastrovací elektronové mikroskopie (REM) pomocí adaptace excitujícího nízkoenergiového REM pro navrženou metodu měření a nastavování 'nenabíjející' energie dopadu elektronů na vzorek. Přístroj bude doplněn o elektronicky řízený vysokonapěťový zdroj pro předpětí vzorku, dále o speciální rastrovací a detekční elektronickou jednotku pro měření závislosti signálu na energii dopadu, o programové vybavení pro řízení měření a pro ovládání mikroskopu v režimu zobrazení na kritické energii a v konečné fázi bude zlepšeno rozlišení mikroskopu rekonstrukcí části osvětlovacího systému. Ověření bude prováděno na površích technických izolantů pomocí studia procesu nabíjení pod dopadem elektronů a jeho závislosti na energii elektronů. Princip bude bezprostředně aplikován na studium povrchů vybraných nevodivých materiálů.
Title	Verification of the principle of zero - charging high resolution scanning electron microscopy and its applications. (en) Ověření principu nenabíjející rastrovací elektronové mikroskopie s vysokým rozlišením a jeho použití ke studiu nepokovených povrchů málo vodivých materiálů
skos:notation	GA202/96/0961
http://linked.open...avai/cep/aktivita	Standard projects
http://linked.open...kovaStatniPodpora	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/GA202%2F96%2F0961/celkovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/GA202%2F96%2F0961/celkoveNaklady
http://linked.open...ep/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open.../cep/fazeProjektu	427610
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://linked.open...hodnoceniProjektu	U - Uspěl podle zadání, tj. byly splněny cíle a jeho předpokládané výsledky uvedené ve smlouvě / rozhodnutí o poskytnutí podpory
http://linked.open...ep/partnetrHlavni	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...inujicichPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu	1 (xsd:int)
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV	10 (xsd:int)
http://linked.open...enychVysledkuVRIV	10 (xsd:int)
http://linked.open...iciPoslednihoRoku	1999
http://linked.open...atUdajeProjZameru	1999
http://linked.open...usZobrazovaneFaze	DUU
http://linked.open...ai/cep/typPojektu	P - Projekt výzkumu a vývoje financovaný ze státního rozpočtu
http://linked.open.../cep/vedlejsiObor	CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
http://linked.open...jektu+dodavatelem	Metoda nenabíjecí mikroskopie se ukazuje jako funkční pro preparáty, jejichž povrch neobsahuje velké dutiny s charakteristickým rozměrem 1-10 mikrometru. Metoda se jeví jako výhodná zvláště pro biomedicinské preparáty, makromolekulární látky a keramiky. (cs)
http://linked.open...tniCyklusProjektu	ZBKU
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA202%2F96%2F0961/1996/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA202%2F96%2F0961/1997/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA202%2F96%2F0961/1998/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA202%2F96%2F0961/1999/ico%3A68081731

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software