About: Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt
rdfs:seeAlso	http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=GA102/08/1474
Description	The project is focused on the local nanometer size optical and electron characterization of optoelectronic structures, including electroluminescent structures. Because the knowledge about the nanoscopic properties of these structures is not yet well known, we will use a method of Scanning near-field optical microsopy (SNOM) developed in the laboratory. The main objective is to understand and improve the overall efficiency and reliability of structures, which are both degraded by absorption, internalreflection and other losses. The main effort will be oriented toward study of ageing effects, which are mostly due to field and local heating enhanced diffusion of doped ions and host material vacancies. The principal mechanisms of local electromagnetic fields in the vicinity of devices, and luminescence excitation will be analyzed. Optical and electron features will be measured by noise spectroscopy, local photo- and electroluminescence and near-field techniques, as well as a correlation of results in (en) Projekt je zaměřen na lokální charakterizaci optických a elektronických vlastností optoelektronických struktur, včetně elektroluminiscenčních struktur. Vzhledem k faktu, že o nanoskopických vlastnostech těchto struktur není příliš informací, bude použita relativně nová metoda rastrovací mikroskopie v optickém blízkém poli (SNOM) rozvíjená na pracovišti. Hlavním cílem projektu je pochopení a zlepšení kvality a živostnosti těchto struktur. Ty se zhoršují absorpcí, vnitřním odrazem a dalšími mechanismy ztrát. Tvar elektromagnetického pole v blízkém okolí součástek a hlavní mechanismy lokální elektroluminiscence budou studovány zejména s ohledem na proces stárnutí, způsobený zesílenou difúzí iontů příměsí a vakancí nosiče. Ke zjištění kvality a životnosti součástek budou zkoumány základní lokální optické a elektrické charakteristiky a to jednak pomocí metody šumové spektroskopie, lokální foto- a elektroluminisce a optického blízkého pole, jednak pomocí korelace jasu (výsledků
Title	Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution (en) Lokální optická a elektrická charakterizace optoelektronických struktur s nanometrickým rozlišením
skos:notation	GA102/08/1474
http://linked.open...avai/cep/aktivita	Standard projects
http://linked.open...kovaStatniPodpora	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/GA102%2F08%2F1474/celkovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/GA102%2F08%2F1474/celkoveNaklady
http://linked.open...datumDodatniDoRIV	2015-02-09 (xsd:date)
http://linked.open...i/cep/druhSouteze	VS - Veřejná soutěž ve výzkumu a vývoji
http://linked.open...ep/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open.../cep/fazeProjektu	82297992
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://linked.open...hodnoceniProjektu	U - Uspěl podle zadání, tj. byly splněny cíle a jeho předpokládané výsledky uvedené ve smlouvě / rozhodnutí o poskytnutí podpory
http://linked.open...vai/cep/kategorie	ZV - Základní výzkum
http://linked.open.../cep/klicovaSlova	optoelectronic structures; local optical and electronic characterisation; optical nanometrology (en)
http://linked.open...ep/partnetrHlavni	Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...inujicichPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu	1 (xsd:int)
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV	39 (xsd:int)
http://linked.open...enychVysledkuVRIV	39 (xsd:int)
http://linked.open...lneniVMinulemRoce	2010-04-16 (xsd:date)
http://linked.open.../prideleniPodpory	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/prideleniPodpory/102%2F08%2F1474
http://linked.open...iciPoslednihoRoku	2010
http://linked.open...atUdajeProjZameru	2011
http://linked.open.../vavai/cep/soutez	SGA02008GA-ST
http://linked.open...usZobrazovaneFaze	DUU
http://linked.open...ai/cep/typPojektu	P - Projekt výzkumu a vývoje financovaný ze státního rozpočtu
http://linked.open...ep/ukonceniReseni	2010-12-31 (xsd:date)
http://linked.open.../cep/vedlejsiObor	BH - Optika, masery a lasery JB - Senzory, čidla, měření a regulace
http://linked.open...ep/zahajeniReseni	2008-01-01 (xsd:date)
http://linked.open...jektu+dodavatelem	Projekt byl zaměřen na využití a propracování relativně nové metody rastrovací mikroskopie v optickém blízkém poli  pro lokální charakterizaci optických a elektronických vlastností fotonických součástek, včetně anorganických i organických struktur.  Vzhledem k faktu, že o lokální nanoskopických vlastnostech těchto materiálů není dosud příliš informací, bylo hlavním cílem (cs) The project was focused on the exploitation of Scanning near-field optical microscopy method for local nanometer optical and electronic characterization of photonic components, including  inorganic and organic structures. Because the knowledge about the nanoscopic properties of these structures is not yet well known, the main objective was to understand and improve the overall efficiency of (en)
http://linked.open...tniCyklusProjektu	ZBKU
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo	local optical and electronic characterisation optoelectronic structures
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F08%2F1474/2008/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F08%2F1474/2009/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F08%2F1474/2010/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F08%2F1474/2011/orjk%3A26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 41 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2025 OpenLink Software