About: Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt
rdfs:seeAlso	http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=GA102/05/0886
Description	Environmental scanning electron microscopy (ESEM) belongs to the last trends of microscopic methods. It enables working in the specimen chamber with pressures higher than in a standard SEM (approx. 103Pa in comparison with 10-3Pa) and observation of specimens in their natural wet state without previous preparation. A number of problems connected with this methodology has been solved, nevertheless, several imperfections are not finished yet. The project deals with one of them - detection of true secondary electrons using a way totally suppressing the influence of undesirable backscattered electrons. The principle of the detection is the exhaust of secondary electrons from the specimen placed in the environment of high pressure of gas to the environment of high vacuum, in which the scintillator with high electrode potential is placed. The secondary electrons are exhausted using the low electrostatic field to the space of two chambers with differentially pumped pressure of gas. These chambers (en) Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie (EREM) se řadí k posledním trendům mikroskopických metod. Umožňuje pracovat v komoře vzorku s tlaky vyššími než ve standardním REM (cca. 103Pa oproti 10-3Pa) a pozorovat vzorky v jejich přirozeném vlhkémstavu bez předchozí preparace a bez nežádoucích nabíjecích artefaktů na jejich povrchu. Byla vyřešena celá řada problémů spojených s touto metodikou, nicméně některé nedostatky zůstávají nedořešeny. Projekt se zabývá jedním z nich - detekcí pravých sekundárních elektronů způsobem, který zcela potlačuje vliv nežádoucích zpětně odražených elektronů. Princip detekce spočívá v odsávání sekundárních elektronů ze vzorku umístěného v prostředí vysokého tlaku plynu do prostředí vysokého vakua v němž je umístěn scintilátor s vysokým elektrodovým potenciálem. Sekundární elektrony jsou odsávány pomocí nízkého elektrostatického pole do dvou komor s diferenciálně čerpaným tlakem plynu. Tyto komory jsou odděleny aperturními clonami tvořícími současně
Title	Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope (en) Výzkum detekčních systémů pravých sekundárních elektronů v nově koncipovaném environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu
skos:notation	GA102/05/0886
http://linked.open...avai/cep/aktivita	Standard projects
http://linked.open...kovaStatniPodpora	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/GA102%2F05%2F0886/celkovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/GA102%2F05%2F0886/celkoveNaklady
http://linked.open...datumDodatniDoRIV	2008-12-16 (xsd:date)
http://linked.open...i/cep/druhSouteze	VS - Veřejná soutěž ve výzkumu a vývoji
http://linked.open...ep/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open.../cep/fazeProjektu	71262534
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://linked.open...hodnoceniProjektu	U - Uspěl podle zadání, tj. byly splněny cíle a jeho předpokládané výsledky uvedené ve smlouvě / rozhodnutí o poskytnutí podpory
http://linked.open...vai/cep/kategorie	ZV - Základní výzkum
http://linked.open.../cep/klicovaSlova	environmental microscope; secondary electrons; scintillation detector (en)
http://linked.open...ep/partnetrHlavni	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...inujicichPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu	1 (xsd:int)
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu	1 (xsd:int)
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV	39 (xsd:int)
http://linked.open...enychVysledkuVRIV	39 (xsd:int)
http://linked.open...lneniVMinulemRoce	2007-05-02 (xsd:date)
http://linked.open.../prideleniPodpory	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/prideleniPodpory/102%2F05%2F0886
http://linked.open...iciPoslednihoRoku	2007
http://linked.open...atUdajeProjZameru	2008
http://linked.open.../vavai/cep/soutez	SGA02005GA-ST
http://linked.open...usZobrazovaneFaze	DUU
http://linked.open...ai/cep/typPojektu	P - Projekt výzkumu a vývoje financovaný ze státního rozpočtu
http://linked.open...ep/ukonceniReseni	2007-12-31 (xsd:date)
http://linked.open.../cep/vedlejsiObor	BH - Optika, masery a lasery JI - Kompositní materiály
http://linked.open...ep/zahajeniReseni	2005-01-01 (xsd:date)
http://linked.open...jektu+dodavatelem	Řešení projektu přineslo nové poznatky v oblasti detekce sekundárních elektronů v environmentální rastrovací elektronové mikroskopii (EREM), a to jak scintilačně fotonásobičovým detektorem sekundárních elektronů, tak ionizačním a segmentovým ionizačním d (cs) The solution of the grant project brought new knowledge about the detection of secondary electrons in environmental scanning electron microscopy (ESEM) both by the scintillation-photomultiplier detectors of secondary electrons and by ionization and segme (en)
http://linked.open...tniCyklusProjektu	ZBKU
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo	secondary electrons environmental microscope
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F05%2F0886/2005/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F05%2F0886/2005/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F05%2F0886/2006/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F05%2F0886/2006/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F05%2F0886/2007/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F05%2F0886/2007/orjk%3A26220 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F05%2F0886/2008/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/GA102%2F05%2F0886/2008/orjk%3A26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 112 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software