*Extension of the scope of imaging modes of the scanning electron microscopes produced by the applicant of this project, namely with microscopy of slow electrons below 50 eV down to units of eV, i.e. in-to the range offering sensitive examination of the crystallinic as well as electronic structure of the sample. Scanning transmission microscopy at the energies below 30 keV down to the lowest energies, with emphasis on applications in biology. Introduction of a multidimensional microscopy acquiring not only the total number of emitted signal electrons but also their properties like the initial angle and energy of emission. (en)
*Rozšíření rejstříku zobrazovacích elektronových mikroskopů vyráběných navrhovatelem projektu o mikroskopii pomalými elektrony zejména pod 50 eV do jednotek eV, tj. do oblasti umožňující citlivé zkoumání krystalické i elektronické struktury preparátu. Elektronová mikroskopie na průchod teknou vrstvou vzorku pod energii 30 keV až do nejnižších energií, a to s důrazem na biologické aplikace. Vícerozměrná mikroskopie zachycující nejen celkový počet emitovaných signálních elektronů, ale i jejich vlastnosti jako počáteční úhel a energii emise. (cs)
scanning electron microscope; microscopy with slow electrons; imaging modes; multidimensional microscopy; scanning transmission electron microscopy at very low energies (en)