Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Pro různé typy nanokrystalických materiálů, obzvláště z hlediska aplikací v praxi, jsou klíčovými problémy krystalizace, rekrystalizace a teplotní stabilita. Při studiu těchto jevů jsou často hledány zvláště teploty základních změn, méně je studována kinetika. V projektu navrhujeme studovat obojí spolu s teplotním vývojem mikrostruktury pro různé typy nanomateriálů s reprezentanty vybranými na základě předchozích studií a praktického významu – amorfní a nanokrystalické tenké vrstvy, nanoprášky a nanotrubky (zejména TiO2) a submikrokrystalické objemové materiály. Základní metodou bude rtg difrakce, zejména za vysokých teplot, jako technika, která je schopna poskytnout řadu informací z jediného záznamu – fázové složení, zbytkové napětí, mikrodeformaci resp. hustotu dislokací, velikost krystalitů, texturu, podíl krystalické fáze- doplněná dalšími metodami. Zvláštní pozornost bude zaměřena na studium působení zbytkového napětí na krystalizaci vrstev o různých tloušťkách. (cs)
- For different kind of nanocrystalline materials the problems of crystallization, recrystallization and thermal stability are key issues, in particular for their practical applications. Usually only transition temperatures are searched rather than kinetics of these phenomena. Both will be studied together with the evolution of microstructure for different nanomaterials with the representatives selected at the beginning on the base of previous studies and also of practical interest – thin films, nanopowders, nanotubes (titania) and submicrocrystalline bulk materials. Main method will be X-ray diffraction (especially at high temperatures) as a technique providing different kind of information – phase composition, stress, strain, crystallite size, preferred orientation, crystalline fraction – from a single pattern, complemented by other methods. Special attention will be devoted to study of influence of stress acting in the films with different thickness on their crystallization, influence of stored deformation energy on recrystallization in submicrocrystalline metals. (en)
|
Title
| - Nanokrystalické materiály - rtg charakterizace struktury a její teplotní stability (cs)
- Nanocrystalline materials - X-ray characterization of structure and its thermal stability (en)
|
http://linked.open...vai/cislo-smlouvy
| |
http://linked.open...avai/druh-souteze
| |
http://linked.open...domain/vavai/faze
| |
http://linked.open...vavai/hlavni-obor
| |
http://linked.open...vai/vedlejsi-obor
| |
http://linked.open...i/hlavni-ucastnik
| |
http://linked.open...vavai/id-aktivity
| |
http://linked.open.../vavai/id-souteze
| |
http://linked.open...n/vavai/kategorie
| |
http://linked.open...vai/klicova-slova
| - X-ray diffraction; nanocrystalline materials; submicrocrystalline metals; microstructure; thermal stabil (en)
|
http://linked.open...avai/konec-reseni
| |
http://linked.open...nujicich-prijemcu
| |
http://linked.open...avai/poskytovatel
| |
http://linked.open...avai/start-reseni
| |
http://linked.open...ai/statni-podpora
| |
http://linked.open...vavai/typProjektu
| |
http://linked.open...ai/uznane-naklady
| |
http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
| |
http://linked.open...cet-spoluprijemcu
| |
http://linked.open...ai/pocet-vysledku
| |
http://linked.open...ku-zverejnovanych
| |
is http://linked.open...ain/vavai/projekt
of | |